2025/03/27 更新

写真a

シラキ　イチロウ
白木　一郎
Shiraki Ichiroh
所属
大学院　総合研究部　工学域 電気電子情報工学系（電気電子工学） 准教授
職名
准教授

経歴

  • 山梨大学   大学院総合研究部工学域   准教授

    2014年10月 - 現在

  • 山梨大学　大学院医学工学総合研究部　准教授

    2011年11月 - 現在

  • 山梨大学   大学院医学工学総合研究部   准教授

    2011年11月 - 2014年9月

  • 山梨大学　大学院医学工学総合研究部　助教

    2007年4月 - 現在

  • 山梨大学   大学院医学工学総合研究部   助教

    2007年4月 - 2011年11月

  • 山梨大学　大学院医学工学総合研究部　助手

    2006年4月 - 現在

  • 山梨大学   大学院医学工学総合研究部   助手

    2006年4月 - 2007年3月

  • 物質・材料研究機構　ナノマテリアル研究所　特別研究員

    2004年4月 - 現在

  • 物質・材料研究機構   ナノマテリアル研究所（三木一司研究室）   特別研究員

    2004年4月 - 2006年3月

  • 産業技術総合研究所　ナノテクノロジー研究部門　特別研究員

    2001年4月 - 現在

  • 産業技術総合研究所   ナノテクノロジー研究部門（三木一司研究室）   特別研究員

    2001年4月 - 2004年3月

  • 日本学術振興会　特別研究員　（東京大学理学系研究科物理学教室における研究）

    2000年4月 - 現在

  • 日本学術振興会   東京大学理学系研究科物理学教室（長谷川修司研究室）   特別研究員

    2000年4月 - 2001年3月

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学歴

  • 東京大学   大学院理学系研究科   物理学専攻

    - 2000年3月

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    国名： 日本国

    備考： (事項) 東京大学大学院理学系研究科博士後期課程物理学専攻修了

  • 東京大学大学院   理学系研究科 博士後期課程   物理学専攻

    1997年4月 - 2000年3月

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    国名： 日本国

  • 早稲田大学   大学院理工学研究科   物理及び応用物理学専攻

    - 1997年3月

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    国名： 日本国

    備考： (事項) 早稲田大学大学院理工学研究科博士前期課程物理及び応用物理学専攻修了

  • 早稲田大学   理工学研究科 博士前期課程   物理及び応用物理学専攻

    1995年4月 - 1997年3月

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    国名： 日本国

  • 早稲田大学   理工学部   応用物理学科

    - 1995年3月

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    国名： 日本国

    備考： (事項) 早稲田大学理工学部応用物理学科卒業

  • 早稲田大学   理工学部   応用物理学科

    1991年4月 - 1995年3月

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    国名： 日本国

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学位

  • 博士（理学） （ 2000年3月   東京大学 ）

研究分野

  • ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性  / 極限環境で動作する走査型プローブ顕微鏡を用いた表面電気磁気特性評価

  • ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性  / ペロブスカイト型金属酸化物の表面構造解析

  • ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性  / 多探針法によるプルシアンブルー類似体の電気及び磁気特性評価

  • エネルギー / 量子ビーム科学  / 量子ビーム応用（ミュオン）

  • ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性

研究キーワード

  • 表面・界面　超高真空　極低温　走査型プローブ顕微鏡　原子分解能　走査電子顕微鏡　半導体　シリコン　表面電子線回折　プルシアンブルー類似体　ペロブスカイト型金属酸化物

  • 超高真空

  • 走査電子顕微鏡

  • 走査型プローブ顕微鏡

  • 表面・界面

  • 薄膜・表面界面物性

  • 極限環境で動作する走査型プローブ顕微鏡を用いた表面電気磁気特性評価

  • 極低温

  • 原子間力顕微鏡 走査型トンネル顕微鏡

  • 原子分解能

  • 半導体 表面電子線回折

  • ペロブスカイト型金属酸化物

  • プルシアンブルー類似体

  • チタン酸ストロンチウム

  • シリコン

  • surface&interface ultra-high-vacuum UHV low-temperatures scanning-probe-microscope SPM atomic-force-microscope AFM scanning-tunneling-microscope STM silicon semiconductors surface-electron-diffraction

  • Development of scanning probe microscope for use in extreme conditions and applications for surface electrical conductivities /magnetic properties measurements.

研究テーマ

  • 極限環境で動作する走査型プローブ顕微鏡を用いた表面電気磁気特性評価

  • チタン酸ストロンチウム表面解析

  • 多探針法によるプルシアンブルー類似体の電気的磁気的特性評価

共同研究・競争的資金等の研究

  • 宇宙線ミュオンによる富士山体内部の密度異常検出のための多地点同時観測網の構築

    研究課題/領域番号：21H03735  2021年4月 - 2025年3月

    日本学術振興会  山梨大学  科学研究費助成事業  基盤研究(B)

    居島 薫, 白木 一郎, 永嶺 謙忠

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    初年度(2021年度)は、富士山透視観測のための宇宙線ミュオン観測装置を製作するための基本設計と製造メーカーへの発注業務を、当初の計画としていた。当該観測装置は、市販品が無く、「対面」による綿密かつ高度な打ち合わせにより仕様を決定しながら開発を進める性格のものである。しかしながら新型コロナウイルス感染症の蔓延による大学内の強い行動制限のため、製造メーカーとの「対面」による打ち合わせが困難であったことや、その他の社会情勢による半導体不足などの影響を総合的に考慮し、製造メーカーへの製作依頼を断念した。
    このため大学内のワークショップを利用して研究代表者（居島）が製作することに方針を転換した。1年先行する研究（基盤Ｓ分担）においても同様な事情により、別の仕様のものを本研究代表者（居島）が開発したことから、そのノウハウを転用し本研究用の観測措置を自主開発し得るノウハウは獲得出来ている。
    上記を踏まえ研究計画を練り直し、初年度は、これまでに自主開発すべき観測装置の基本設計を終え、年度末までにプラスチックシンチレータ・波長変換ファイバー・MPPC・FPGAなどの不足が予想される半導体を含む主要な部品の調達を完了した。
    また、すでに稼働中の1号機においては、同じくコロナ禍により行動が制限される中、年間の主要なメンテナンスを4半期に1度程度に抑え、リモート操作により観測を継続している。本研究による別角度からの観測結果と合わせた立体的な解析が期待できる。
    （MPPC：（光検出器）アバランシェフォトダイオードアレイ、FPGA：（計測回路））

  • 王陵級巨大古墳の構造分析に関する文理融合型総合研究

    研究課題/領域番号：20H05634  2020年8月 - 2025年3月

    日本学術振興会  岡山大学  科学研究費助成事業  基盤研究(S)

    清家 章, 鈴木 茂之, 山口 雄治, 居島 薫, 白木 一郎, 木村 理, 鳥養 映子, 光本 順, 野崎 貴博, 永嶺 謙忠, 福永 伸哉, 吉村 浩司, 南 健太郎, 三宅 康博, 野坂 俊夫

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    研究開始時点では想定できなかった長期にわたる新型コロナウィルスのパンデミックの影響を受けて、フィールド調査のいくつかは計画の順番変更を余儀なくされたが、困難を乗り越えておおむね順調、一部計画を先行して進めることができた。本研究はミュオン班・墳丘班・埴輪班の３つの班によって実施されている。それぞれの班ごとに研究経過を報告する。
    ミュオン班：2020 年度は、古墳研究に適用するミュオン検出器の設計を検討し、検出器製作の基本方針を定め、製作を開始した。
    墳丘班：墳丘班による三次元計測は、岡山市造山古墳周辺、総社市作山古墳で実施している。総社市鳶尾塚古墳の三次元計測も完了している。赤磐市両宮山古墳については、赤磐市教育委員会から三次元データを提供していただき、当初予定していた吉備三大古墳の墳丘三次元データを初年度で入手したことになる。次いでそれぞれのデータ整理を開始している。また、鳶尾塚古墳では墳丘の発掘調査を実施し、直径23mの円墳であることが推定されるに至っている。
    埴輪班：造山古墳、両宮山周辺古墳（赤磐市森山古墳、同・宮山 4 号墳、同・岩田 3 号墳）と倉敷市二万大塚古墳出土埴輪の資料を所蔵機関から入手し、光学・電子顕微鏡による微細組織観察、X 線回折装置による鉱物同定、および電子線マイクロアナライザ・蛍光 X 線分析装置による化学分析を実施した。その結果、胎土には主に風化花崗岩起源の鉱物粒子と広域テフラ起源のガラス粒子が含まれており、それらの組成から生産地を特定できる可能性が示された。また、鉱物の熱変成と融解の程度により、野焼きと窖窯における焼成温度が見積もられた。埴輪の考古学的観察も並行して進め、造山古墳と畿内王陵系埴輪の比較研究を実施している。

  • ミュオンラジオグラフィを用いた巨大古墳調査法の開発にかかる研究

    研究課題/領域番号：20H00027  2020年4月 - 2021年3月

    日本学術振興会  岡山大学  科学研究費助成事業  基盤研究(A)

    清家 章, 鈴木 茂之, 居島 薫, 白木 一郎, 光本 順, 永嶺 謙忠, 福永 伸哉, 吉村 浩司, 南 健太郎, 三宅 康博

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    考古班は、岡山大学が作成した岡山市造山古墳３次元測量データ３種類と赤磐市が作成した両宮山古墳の３次元測量データを入手し、それぞれの古墳の測量データがミュオンラジオグラフィにおける解析とシミュレーションに適切な精度を有しているか検討を進めた。造山古墳では３種のデータのうち、より適切なデータを選択した。両宮山古墳では座標データから等高線を復元し、ミュオンラジオグラフィの解析に備えている。岡山市造山古墳のミュオンラジオグラフィ調査に備え、岡山市教育委員会ならびに地元保存会と協議を実施し、基本的に協力を取り付けている。
    ミュオン班の今年度の課題は、３段構造を持つ古墳の中段まで人力で運搬可能なコンパクト可搬型ミュオン検出器の開発である。（１）波長変換ファイバー入りプラスチックシンチレータと光半導体デバイス（MPPC）の組合せによるカウンターの効率と実装法を確認するため、技術的に確立している光電子増倍管と比較してカウンター単体の予備実験を実施し、部品と材料の調達を開始した。（２）露天の測定環境に耐え得る防水、防砂、温調機能を持つ検出器の構造・構成を検討するため、文献調査、福島原発等の検出器開発者らとの情報交換、予備実験を繰り返し、基本設計を進めた。（３）考古班からの詳細情報に基づくシミュレーション解析を進めた。
    本研究費で購入した光電子増倍管、波長変換ファイバー、データ解析用パソコン等を予備実験に活用した。検出器筐体の構造や設置場所の検討に必要な現地環境調査は、所属部署の県外出張自粛要請のために断念した。
    検出器の開発ならびに考古班の作業は基盤Sに引き継いで実施中である。

  • スピン輸送現象の実空間その場観察手法の開発

    2018年6月 - 2021年3月

    文科省・日本学術振興会  科研費 挑戦的研究(萌芽) 

    保原 麗

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    資金種別：競争的資金 

  • ナノスケール局所応力導入型多探針電気伝導度測定装置の開発と計測

    2010年4月 - 2012年3月

    文科省・日本学術振興会  科研費 若手研究(A) 

    白木 一郎

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    担当区分：研究代表者  資金種別：競争的資金 

  • ミュオニウムスピン交換反応を用いたスピントロニクス材料の機能開発

    2007年4月 - 2010年3月

    文科省・日本学術振興会  科研費 基盤研究(B) 

    鳥養 映子

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    資金種別：競争的資金 

  • 原子分解能を有する非光学式原子間力顕微鏡

    2005年4月 - 2008年3月

    文科省・日本学術振興会  科研費 若手研究(B) 

    白木 一郎

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    担当区分：研究代表者  資金種別：競争的資金 

  • 表面電子輸送

    1999年4月 - 2001年3月

    文科省・日本学術振興会  科研費 基盤研究(B) 

    長谷川 修司

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    資金種別：競争的資金 

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論文

  • プルシアンブルー類似体の湿度依存した電気伝導度評価 重要な業績

    佐藤 裕貴, 吉田 優介, 白木 一郎

    日本物理学会 第79回年次大会 講演概要集   2024年9月

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）  

  • 放電プラズマ焼結法による雨畑硯原石切削粉からの新しいセラミックス材料の創製 査読

    串田賢一，白木一郎，鳥養映子

    材料の科学と工学   61 ( 3 )   119 - 123   2024年6月

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    記述言語：日本語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • Muonium response to low oxygen levels in haemoglobin and other biological aqueous solutions and potential application towards monitoring hypoxia 査読

    Amba Datt Pant, Kanetada Nagamine, Eiko Torikai, Ichiro Shiraki, Koichiro Shimomura, Francis L. Pratt, Hiroko Ariga-Miwa, Katsuhiko Ishida, Jerome S. Schultz

    NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT   1011   165561 - 165561   2021年6月( ISSN：0168-9002  eISSN：1872-9576 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nima.2021.165561

    Web of Science

  • Development of cosmic-ray muon spin rotation radiography to investigate chemical and physical states of steels 査読

    T. Fujimaki, K. Nagamine, E. Torikai, I. Shiraki, S. Saito, M. Mihara, A.D.Pant

    Proceedings of Science, 35th International Cosmic Ray Conference - ICRC2017   221   2017年

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

  • 多探針プローブ顕微鏡によるプルシアンブルー類似体の局所電気伝導度計測 招待

    白木一郎

    マイクロビームアナリシス第141委員会　第164回研究会資料   45 - 50   2016年5月

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    担当区分：筆頭著者,　最終著者,　責任著者   記述言語：日本語   掲載種別：研究論文（研究会，シンポジウム資料等）   出版者・発行元：独立行政法人　日本学術振興会  

  • 19pPSA-51 プルシアンブルー類似体の鉄酸化状態に依存した局所電気伝導度の多探針法計測

    眞野 紘輔, 竹内 嵩裕, 坂上 僚, 源 拓洋, 白木 一郎

    日本物理学会講演概要集   71   2554 - 2554   2016年( ISSN：2189-079X )

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    担当区分：最終著者,　責任著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    DOI： 10.11316/jpsgaiyo.71.1.0_2554

    CiNii Books

  • Hydration Effect on Electron Transfer in Cytochrome c Monitored by µSR 査読 国際共著

    Amba D. PANT, Yoko SUGAWARA, Isao YANAGIHARA, Govinda P. KHANAL, Ichiro SHIRAKI, Wataru HIGEMOTO, Koichiro SHIMOMURA, Katsuhiko ISHIDA, Fransis L. PRATT, Eiko TORIKAI, Kanetada NAGAMINE

    JPS Conf. Proc.   8   033007   2015年9月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

  • Hydration Effect on Electron Transfer in Cytochrome c Monitored by μSR 査読

    Amba D. PANT,Yoko SUGAWARA,Isao YANAGIHARA,Govinda P. KHANAL,Ichiro SHIRAKI,Wataru HIGEMOTO,Koichiro SHIMOMURA,Katsuhiko ISHIDA,Fransis L. Pratt,Eiko TORIKAI,Kanetada NAGAMINE

    JPS Conf. Proc. Proceedings of the 2nd International Symposium on Science at J-PARC — Unlocking the Mysteries of Life, Matter and the Universe —   8   2015年6月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

  • Muonium response to oxygen content in biological aqueous solutions for cancer research 査読

    A D Pant,K Nagamine,I Shiraki,E Torikai,K Shimomura,F L Pratt,H Ariga,K Ishida,J S Schultz

    Journal of Physics: Conference Series   551   2014年12月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

  • 9pPSA-131 多探針法によるプルシアンブルー類似体の局所電気伝導度計測の試み(9pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

    榎本 翔, 源 拓洋, 白木 一郎

    日本物理学会講演概要集   69 ( 2 )   668 - 668   2014年8月( ISSN：1342-8349 )

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    担当区分：最終著者,　責任著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • 28pPSA-26 STMを用いたSrTiO_3表面の平坦性と還元条件の評価(28pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面・結晶成長))

    藤牧 拓郎, 渡辺 達也, 三木 一司, 白木 一郎

    日本物理学会講演概要集   69 ( 1 )   884 - 884   2014年3月( ISSN：1342-8349 )

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    担当区分：最終著者,　責任著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • Detection of Conduction Electron Spin Polarization in n-GaAs by Negative Muonium 査読

    K. Yokoyama,K. Nagamine,K. Shimomura,H.W.K. Tom,R. Kawakami,P. Bakuled,Y. Matsuda,K. Ishida,K. Ohishi,F.L. Pratt,I. Shiraki,E. Torikai

    Physics Procedia   30   231 - 234   2012年6月

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    記述言語：英語  

  • 26pPSB-1 部分接合法による水晶振動子の金電極表面の改質(26pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

    渡邉 僚志, 中島 夏輝, 平井 俊光, 白木 一郎, 鳥養 映子

    日本物理学会講演概要集   67 ( 1 )   956 - 956   2012年3月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • 26pPSB-54 スピン偏極原子クラスターの形成と計測に向けて : その2:冷却スピン偏極原子団生成(26pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

    橋本 智彦, 野澤 武志, 平井 俊光, 冨澤 悠, 田辺 昌太, 白木 一郎, 山田 俊吾, 佐藤 知広, 伊藤 治彦, 鳥養 映子

    日本物理学会講演概要集   67 ( 1 )   969 - 969   2012年3月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • Detection of Conduction Electron Spin Polarization in n-GaAs by Negative Muonium 査読 国際共著

    K. Yokoyama, K. Nagamine, K. Shimomura, H. W. K. Tom, R. Kawakami, P. Bakule, Y. Matsuda, K. Ishida, K. Ohishi, F. L. Pratt, I. Shiraki, E. Torikai

    12TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MUON SPIN ROTATION, RELAXATION AND RESONANCE (MUSR2011)   30   231 - 234   2012年( ISSN：1875-3892 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）   出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV  

    In our ZF mu+SR studies of the spin-dependent response to the polarized conduction electrons produced by circularly polarized 830 nm laser light in a semi-metallic and strain-free n-type GaAs (3x10(16) cm(-3) Si), among possible states of positive muon, Mu(-) (mu(+)e(-)e(-)) had been found to take a spin-dependent exchange scattering, while muonium (Mu(0)) at bond-center was found to be insensitive. In order to understand this surprising spin-dependent Mu(-) response, the LF (up to 0.4 T) mu+SR studies were carried out and data is suggesting a contribution of bound electron(s) of Mu(-) Possible mechanisms of the Mu(-) response are given.

    DOI： 10.1016/j.phpro.2012.04.080

    Web of Science

  • SrTiO3(100)−√5×√5−R26.6 surface observed by high-resolution scanning tunneling microscopy 査読 重要な業績

    I. Shiraki, K. Miki

    Surface Science   605 ( 13-14 )   1304 - 1307   2011年7月( ISSN：0039-6028 )

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.susc.2011.04.023

    Web of Science

  • SrTiO3(100)－√5×√5－R26.6 surface observed by high-resolution scanning tunneling microscopy 査読 重要な業績

    Ichiro SHIRAKI,Kazushi MIKI

    Surface Science   605 ( 13-14 )   1304 - 1307   2011年4月

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    記述言語：英語  

  • 24aPS-88 スピン偏極原子クラスターの形成と計測に向けて : レーザー冷却原子の高密度化(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

    橋本 智彦, 野澤 武志, 田中 政光, 白木 一郎, 山田 俊吾, 佐藤 智広, 伊藤 治彦, 鳥養 映子

    日本物理学会講演概要集   65 ( 2 )   859 - 859   2010年8月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • 21aXK-6 MgO(100)上のAr単結晶薄膜成長条件(結晶成長,領域9,表面・界面,結晶成長)

    井上 大輔, 鈴木 達也, 白木 一郎, 鳥養 映子

    日本物理学会講演概要集   62 ( 2 )   909 - 909   2007年8月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • 24aWB-1 X_n(X=Cs,Rb,K)クラスターにおけるスピンと構造の相関(量子スピン系(クラスター,一般),領域3,磁性,磁気共鳴) 国際共著

    鳥養 映子, 白木 一郎, Srinivas Sudha

    日本物理学会講演概要集   62 ( 2 )   500 - 500   2007年8月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：英語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • Demonstration of low temperature atomic force microscope with atomic resolution using piezoresistive cantilevers 査読 重要な業績

    I. Shiraki, Y. Miyatake, T. Nagamura, K. Miki

    Review of Scientific Instruments   77 ( 2 )   23705 - 23708   2006年2月

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    記述言語：英語  

  • Demonstration of low-temperature atomic force microscope with atomic resolution using piezoresistive cantilevers 査読 重要な業績

    Shiraki, I, Y Miyatake, T Nagamura, K Miki

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS   77 ( 2 )   23705 - 23708   2006年2月( ISSN：0034-6748 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：AMER INST PHYSICS  

    Compared to current optical-lever methods adopted in atomic force microscopes, nonoptical methods such as piezoresistive methods and quartz fork methods can be more advantageous due to their smaller installation size and the lack of electromagnetic effects from laser light during electrical conductivity experiments. As a technological demonstration of nonoptical methods, a low-temperature atomic force microscope using piezoresistive cantilevers was developed and operated at liquid-He-4 temperatures (5 K). The cantilever and sample can be transferred from atmosphere to the microscope head operating at low temperatures. Both contact mode and noncontact mode were used for testing the system while carrying out atomic resolution studies on clean Si(111) and clean Si(100) surfaces. (c) 2006 American Institute of Physics.

    DOI： 10.1063/1.2169469

    Web of Science

  • Optimization of the piezoresistive AFM cantilever design for use at cryogenic temperatures 査読

    Seung Seoup Lee, Yutaka Miyatake, Ichiro Shiraki, Toshihiko Nagamura, Kazushi Miki, Takahito Ono, Masayoshi Esashi

    Digest of Technical Papers - International Conference on Solid State Sensors and Actuators and Microsystems, TRANSDUCERS '05   1   625 - 629   2005年

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

    We have developed heavily boron-doped piezoresistive single-crystalline silicon AFM cantilevers which aimed for operating at low temperatures including cryogenic temperature range. The optimization of design to increase the sensitivity and reduce noise at cryogenic temperature is considered by controlling the dopant concentration. The relatively low concentration of 6×10 18 atoms/cm 3 shows the lowest Minimum Detectable Force (MDF) at room temperature (R.T.) by calculation. However, it was predicted that the optimal concentration of dopant was shifted to a higher concentration at cryogenic temperature in MDF by calculation. Firstly we developed AFM cantilevers integrated with piezoresistive elements at the support of the cantilever. Actually the fabricated heavily doped cantilever shows that the sensitivity at cryogenic temperature increased by 1.6 times at 5 K than that at R.T. © 2005 IEEE.

    DOI： 10.1111/j.1365-2265.2005.02387.x

    Scopus

  • Electrical conduction through surface superstructures measured by microscopic four-point probes 査読

    S. Hasegawa, I. Shiraki,F. Tanabe, R. Hobara,T. Kanagawa,T. Tanikawa, I. Matsuda,C. L. Petersen,T. M. Hansen,P. Boggild, F. Grey

    Surface Review and Letters   10   963 - 980   2003年12月

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    記述言語：英語  

  • Electrical conduction through surface superstructures measured by microscopic four-point probes 査読 国際共著

    S Hasegawa, Shiraki, I, F Tanabe, R Hobara, T Kanagawa, T Tanikawa, Matsuda, I, CL Petersen, TM Hansen, P Boggild, F Grey

    SURFACE REVIEW AND LETTERS   10 ( 6 )   963 - 980   2003年12月( ISSN：0218-625X )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：WORLD SCIENTIFIC PUBL CO PTE LTD  

    For in-situ measurements of the local electrical conductivity of well-defined crystal surfaces in ultra-high vacuum, we have developed two kinds of microscopic four-point probe methods. One involves a "four-tip STM prober," in which four independently driven tips of a scanning tunneling microscope (STM) are used for measurements of four-point probe conductivity. The probe spacing can be changed from 500 nm to 1 mm. The other method involves monolithic micro-four-point probes, fabricated on silicon chips, whose probe spacing is fixed around several mum. These probes are installed in scanning-electron-microscopy/electron-diffraction chambers, in which the structures of sample surfaces and probe positions are observed in situ. The probes can be positioned precisely on aimed areas on the sample with the aid of piezoactuators. By the use of these machines, the surface sensitivity in conductivity measurements has been greatly enhanced compared with the macroscopic four-point probe method. Then the conduction through the topmost atomic layers (surface-state conductivity) and the influence of atomic steps on conductivity can be directly measured.

    DOI： 10.1142/S0218625X03005736

    Web of Science

  • Resolution enhancement of scanning four-point-probe measurement on two-dimensional systems 査読

    T. M. Hansen, K. Stokbro, O. Hansen, T. Hassenkam,I. Shiraki, S. Hasegawa, P. Bøggild

    Review of Scientific Instruments   74 ( 8 )   3701 - 3708   2003年8月

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    記述言語：英語  

  • Resolution enhancement of scanning four-point-probe measurements on two-dimensional systems 査読 国際共著

    TM Hansen, K Stokbro, O Hansen, T Hassenkam, Shiraki, I, S Hasegawa, P Boggild

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS   74 ( 8 )   3701 - 3708   2003年8月( ISSN：0034-6748 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：AMER INST PHYSICS  

    A method to improve the resolution of four-point-probe measurements of two-dimensional (2D) and quasi-2D systems is presented. By mapping the conductance on a dense grid around a target area and postprocessing the data, the resolution can be improved by a factor of approximately 50 to better than 1/15 of the four-point-probe electrode spacing. The real conductance sheet is simulated by a grid of discrete resistances, which is optimized by means of a standard optimization algorithm, until the simulated voltage-to-current ratios converges with the measurement. The method has been tested against simulated data as well as real measurements and is found to successfully deconvolute the four-point-probe measurements. In conjunction with a newly developed scanning four-point probe with electrode spacing of 1.1 mum, the method can resolve the conductivity with submicron resolution. (C) 2003 American Institute of Physics.

    DOI： 10.1063/1.1589161

    Web of Science

  • ビスマス原子細線の原子構造と電気伝導度に関する研究 国際共著

    三木一司, 矢代 航, 大橋勝文, 成島哲也, 白木一郎, Rodion Belosludov, Jian-Tao Wang, 水関博志, 川添良幸

    平成１４年度東北大学金属材料研究所研究部共同研究報告   189   2003年6月

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）総説・解説（大学・研究所紀要）  

  • A probe-positioning method with two dimensional calibration pattern for micro-multi-point probes 査読

    W. Yashiro, I. Shiraki, K. Miki

    Review of Scientific Instruments   74 ( 5 )   2722 - 2725   2003年5月

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    記述言語：英語  

  • A probe-positioning method with two-dimensional calibration pattern for micro-multi-point probes 査読 重要な業績

    W Yashiro, Shiraki, I, K Miki

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS   74 ( 5 )   2722 - 2725   2003年5月( ISSN：0034-6748 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：AMER INST PHYSICS  

    A probe-positioning method for micro-multi-point probes that can be independently driven is proposed. By the electron-beam lithography technique, we fabricated a 0.5 mmx0.5 mm-sized probe-positioning pattern matrix consisting of 750 nmx750 nm-sized cells. Each cell has 150 nmx150 nm-sized pits that represent a bit array, which specifies its address. Reading the address information on the pattern with the microprobes allowed us not only to determine the probe positions, but also to calibrate the orientation and dimension of each scan. (C) 2003 American Institute of Physics.

    DOI： 10.1063/1.1569390

    Web of Science

  • Transport at surface nanostructures measured by four-tip STM 査読

    S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara

    Current Applied Physics   2   465 - 471   2002年12月

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    記述言語：英語  

  • Direct measurement of surface-state conductance by microscopic four-point probe method 査読

    S. Hasegawa, I. Shiraki, T. Tanikawa, C. L. Petersen,T. M. Hansen, P. Boggild, F. Grey

    Journal of Physics: Condensed Matter   14   8379 - 8392   2002年9月

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    記述言語：英語  

  • Direct measurement of surface-state conductance by microscopic four-point probe method 査読 国際共著

    S Hasegawa, Shiraki, I, T Tanikawa, CL Petersen, TM Hansen, P Boggild, F Grey

    JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER   14 ( 35 )   8379 - 8392   2002年9月( ISSN：0953-8984  eISSN：1361-648X )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：IOP PUBLISHING LTD  

    For in situ measurements of local electrical conductivity of well defined crystal surfaces in ultrahigh vacuum, we have developed microscopic four-point probes with a probe spacing of several micrometres, installed in a scanning-electron - microscope/electron-diffraction chamber. The probe is precisely positioned on targeted areas of the sample surface by using piezoactuators. This apparatus enables conductivity measurement with extremely high surface sensitivity, resulting in direct access to surface-state conductivity of the surface superstructures, and clarifying the influence of atomic steps upon conductivity.

    DOI： 10.1088/0953-8984/14/35/309

    Web of Science

  • 24aYF-9 4探針STMによる表面電気伝導測定(24aYF 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長分野))

    保原 麗, 金川 泰三, 白木 一郎, 松田 巌, 長谷川 修司

    日本物理学会講演概要集   57 ( 1 )   821 - 821   2002年3月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • Electromigration and phase transformation of Ag on a Cu-precovered Si(111) surface 査読 国際共著

    FX Shi, Shiraki, I, T Nagao, S Hasegawa

    SURFACE SCIENCE   493 ( 1-3 )   331 - 337   2001年11月( ISSN：0039-6028 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV  

    Electromigration and phase transformation of an ultrathin-Ag film patch deposited on a Cu-precovered incommensurate "5 x 5" phase on Si(111) surface were investigated by in situ ultrahigh-vacuum scanning electron microscopy and microprobe reflection high-energy electron diffraction, and compared with the previous results on the clean and Au-precovered Si(111) surfaces. The film patch spread quite slowly towards the cathode by current apply (and resultant heating), at the initial stage of which the patch area showed a root3 x root3 phase, consisted of Ag-Cu surface alloy, with three-dimensional (3D) islands in it. Later, a phase transformation from the root3 x root3 into a root 21 x root 21 structure proceeded, accompanied with the 3D islands dissolving. These surface alloy formations play a key role in the migration, which is similar to the case of on Au-precovered Si(111) surfaces. (C) 2001 Elsevier Science B.V. All rights reserved.

    DOI： 10.1016/S0039-6028(01)01293-6

    Web of Science

  • Independently driven four-tip probes for conductivity measurements in ultrahigh vacuum 査読 重要な業績

    Shiraki, I, F Tanabe, R Hobara, T Nagao, S Hasegawa

    SURFACE SCIENCE   493 ( 1-3 )   633 - 643   2001年11月( ISSN：0039-6028 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV  

    To measure electrical conductivity of materials in scales ranging from nanometer to millimeter, a four-point probe system was developed and installed in an ultrahigh-vacuum. scanning electron microscope (UHV-SEM). Each probe, made of a W tip, was independently driven with piezoelectric actuators and a scanner in XYZ directions to achieve precise positioning in nanometer scales. The SEM was used for observing the tips for positioning, as well as the sample surface together with scanning reflection-high-energy electron diffraction capability. This four-point probe system has two kinds of special devices. One is octapole tube-type scanners for tip scanning parallel to the sample surface with negligible displacements normal to the surface. Another is a pre-amplifier which can be switched in current measurement mode between tunnel contact for scanning tunneling microscopy and direct contact for four-point probe method. The electrical resistance of a silicon crystal with a Si(1 1 1)-7 x 7 clean surface was measured with this machine as a function of probe spacing between I mm and I un. The result clearly showed an enhancement of surface sensitivity in resistance measurement by reducing the probe spacing. (C) 2001 Elsevier Science B.V. All rights reserved.

    DOI： 10.1016/S0039-6028(01)01276-6

    Web of Science

  • 半導体表面での電子 輸送 —点接触トランジスタから多探針STM 招待 国際共著 重要な業績

    長谷川修司, 白木一郎, 田邊輔仁, Francois Grey

    応用物理学会誌   70 ( 10 )   1165 - 1171   2001年10月( ISSN：0369-8009 )

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）総説・解説（学術雑誌）   出版者・発行元：応用物理学会  

    CiNii Books

  • 28aYQ-10 独立駆動型四探針STM装置による表面電気伝導の測定

    田辺 輔仁, 白木 一郎, 保原 麗, 長尾 忠昭, 長谷川 修司

    日本物理学会講演概要集   56 ( 1 )   803 - 803   2001年3月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • 28aYQ-11 マイクロ4端子法による電気伝導の測定

    谷川 雄洋, 白木 一郎, 長尾 忠昭, 長谷川 修司

    日本物理学会講演概要集   56 ( 1 )   803 - 803   2001年3月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • Independently driven four-tip probes for conductivity measurements in ultrahigh vacuum 査読 重要な業績

    I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Nagao, S. Hasegawa

    Surface Science   493   633 - 643   2001年

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    記述言語：英語  

  • Electromigration and phase transformation of Ag on a Cu-precovered Si(111) surface 査読

    F. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, S. Hasegawa

    Surface Science   493   331 - 337   2001年

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    記述言語：英語  

  • Microfour-point probe for studying electronic transport through surface states 査読 重要な業績

    C. L. Petersen, F. Grey, I. Shiraki, S. Hasegawa

    Applied Physics Letters   77   3782 - 3784   2000年12月

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    記述言語：英語  

  • Micro-Four-Point Probes in a UHV-Scanning Electron Microscope for In-Situ Surface Conductivity Measurements 査読 重要な業績

    I. Shiraki, T. Nagao, S. Hasegawa, C. L. Petersen,P. Boggild, T. M. Hansen, F. Grey

    Surface Review and Letters   7   533 - 537   2000年12月

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    記述言語：英語  

  • Microfour-point probe for studying electronic transport through surface states 査読 国際共著 重要な業績

    CL Petersen, F Grey, Shiraki, I, S Hasegawa

    APPLIED PHYSICS LETTERS   77 ( 23 )   3782 - 3784   2000年12月( ISSN：0003-6951 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：AMER INST PHYSICS  

    Microfour-point probes integrated on silicon chips have been fabricated with probe spacings in the range 4-60 mum. They provide a simple robust device for electrical transport measurements at surfaces, bridging the gap between conventional macroscopic four-point probes and scanning tunneling microscopy. Measurements on Si(111) surfaces in ultrahigh vacuum reveal that the Si(111)-root 3x root3-Ag structure induced by a monolayer of Ag atoms has a four-point resistance two orders of magnitude lower than that of the Si(111)-7x7 clean surface. We attribute this remarkable difference to direct transport through surface states, which is not observed on the macroscopic scale, presumably due to scattering at atomic steps. (C) 2000 American Institute of Physics. [S0003-6951(00)02749-2].

    DOI： 10.1063/1.1329871

    Web of Science

  • Micro-four-point probes in a UHV scanning electron microscope for in-situ surface-conductivity measurements 査読 国際共著 重要な業績

    Shiraki, I, T Nagao, S Hasegawa, CL Petersen, P Boggild, TH Hansen, F Grey

    SURFACE REVIEW AND LETTERS   7 ( 5-6 )   533 - 537   2000年10月( ISSN：0218-625X )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：WORLD SCIENTIFIC PUBL CO PTE LTD  

    For in-situ measurements of surface conductivity in ultrahigh vacuum (UHV), we have installed micro-four-point probes (probe spacings down to 4 mum) in a UHV scanning electron microscope (SEM) combined with scanning reflection-high-energy electron diffraction (RHEED). With the aid of piezoactuators for precise positioning of the probes, local conductivity of selected surface domains of well-defined superstructures could be measured during SEM and RHEED observations. It was found that the surface sensitivity of the conductivity measurements was enhanced by reducing the probe spacing, enabling the unambiguous detection of surface-state conductivity and the influence of surface defects on the electrical conduction.

    DOI： 10.1016/S0218-625X(00)00059-2

    Web of Science

  • Diffusion anisotropy of Ag and In on Si(111) surface studied by UHV-SEM 査読 国際共著

    FX Shi, Shiraki, I, T Nagao, S Hasegawa

    ULTRAMICROSCOPY   85 ( 1 )   23 - 33   2000年9月( ISSN：0304-3991 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV  

    Anisotropic features of Ag and In electromigration on clean and Au-precovered Si(111) surfaces were studied by in situ scanning electron microscopy in ultrahigh vacuum. It was noted that the migration direction of Ag was determined by both applied direct-current direction and step orientation on the substrate surface; on an Si(111) surface with steps inclined with respect to the current direction, the electromigration direction shows an apparent deviation from the accurate current direction. On clean and Au-precovered Si(111) surfaces with various coverages of Au(within submonolayer range), the migration behaviors of Ag and In drastically changed with Au coverages and showed different diffusion anisotropy (either thermal diffusion and electromigration) depending on the adsorbate surface structures. Particularly, on a beta-root 3 x root 3-Au surface of one monolayer Au coverage, In migrated with the highest mobility across the step bands, whereas In showed only a slow movement on the 7x7 clean surface due to a migration barrier at step edges. This result implied that the beta-root 3 x root 3-Au surface phase served as an intermediate layer for In adatoms migration. On the contrary, Ag showed negligible migration on the beta-root 3 x root 3-Au surface, while the 7x7 surface was the substrate for appreciable migration of Ag atoms. The results are discussed in terms of step-edge barriers in migration and on-terrace migration. (C) 2000 Elsevier Science B.V. All rights reserved.

    DOI： 10.1016/S0304-3991(00)00038-3

    Web of Science

  • Diffusion Anisotropy of Ag and In on Si(111) Surface Studied by UHV-SEM 査読

    F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, S. Hasegawa

    Ultramicroscopy   85   23 - 33   2000年8月

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    記述言語：英語  

  • Substrate-structure dependence of Ag electromigration on Au-precovered Si(111) surfaces 査読

    F. X. Shi,I. Shiraki,T. Nagao,S. Hasegawa

    Japanese Journal ofApplied Physics   39   4438 - 4442   2000年7月

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    記述言語：英語  

  • Substrate-structure dependence of Ag electromigration on Au-precovered Si(111) surfaces 査読 国際共著

    FX Shi, Shiraki, I, T Nagao, S Hasegawa

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS   39 ( 7B )   4438 - 4442   2000年7月( ISSN：0021-4922 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：JAPAN J APPLIED PHYSICS  

    Electromigration of Ag on Au-precovered Si(111) surfaces was investigated by in-situ ultrahigh vacuum scanning electron microscopy and mu-probe reflection-high-energy electron diffraction (RHEED). Migration behaviors of a Ag-film patch strongly depended on Au coverage theta(Au) and corresponding surface structures. When theta(Au) < 0.7 monolayer (ML), the patch expanded preferentially towards the cathode to attain a maximum area in which the sum of Ag and Au coverages were always about 1 ML irrespective of theta(Au), resulting in two-dimensional (2D) alloy phases (showing root 3 x root 3 RHEED patterns) with different Au/Ag concentration ratios. The largest expansion of the patch area was achieved on a (5 x 2 + alpha-root 3 x root 3)-Au mixed phase structure (theta(Au) similar to 0.7 ML). However, when theta(Au) > 0.7 ML, the patch expansion was greatly reduced. Especially on the beta-root 3 x root 3-Au surface (theta(Au) similar to 1.0 ML), the patch showed no directional expansion towards the cathode. But Ag atoms were observed to migrate inside the patches on all substrates (including the beta-root 3 x root 3-Au surface) to form 3D islands near terrace edges.

    DOI： 10.1143/JJAP.39.4438

    Web of Science

  • Surface-state bands on silicon — Si(111)-√3×√3-Ag surface superstructure 査読

    S. Hasegawa, N. Sato, I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Boggild,T. M. Hansen, T. Nagao, F. Grey

    Japanese Journal ofApplied Physics   39   3815 - 3822   2000年6月

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    記述言語：英語  

  • 23pW-11 独立駆動型4端子STMによる表面電気伝導の測定 重要な業績

    白木 一郎, 田邊 輔仁, 長尾 忠昭, 長谷川 修司

    日本物理学会講演概要集   55 ( 1 )   770 - 770   2000年3月( ISSN：1342-8349 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

    CiNii Books

  • 24aPS-12 独立駆動型4端子STM装置の開発

    田辺 輔仁, 白木 一郎, 長尾 忠昭, 長谷川 修司

    日本物理学会講演概要集   55 ( 1 )   780 - 780   2000年3月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

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  • 25pW-4 μ-4probe内蔵UHV-SEM-SREMによる表面電気伝導のその場観察 国際共著 重要な業績

    白木 一郎, 田邊 輔仁, φggild P.B., Petersen L.C., Grey F, 長尾 忠昭, 長谷川 修司

    日本物理学会講演概要集   54 ( 2 )   802 - 802   1999年9月( ISSN：1342-8349 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

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  • Micro Four-point Probe: a Novel Tool for Measuring the Conductivity of Surfaces at the Micron Scale 査読 国際共著

    P. Boggild, T.M. Hansen, C.L. Petersen, F. Grey, T. Hassenkam, T. Bjornholm, I. Shiraki, S. Hasegawa

    Proceedings of the 9th International Conference on Production Engineering (9thICPE)   832   1999年

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

  • 27a-PS-36 Electromigration of Ag on Au covered Si(111) surface studied by μ-probe RHEED and SEM 国際共著

    SHI F.X, SHIRAKI I., NAGAO T., HASEGAWA S.

    日本物理学会講演概要集   53 ( 2 )   389 - 389   1998年9月( ISSN：1342-8349 )

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    記述言語：英語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

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  • 31a-PS-9 UHV-SEM-SREM-RHEED-STMによるSi(111)-(Ag+Au) 二元表面合金相の形成過程の観察

    白木 一郎, 鳥山 啓之亮, 長尾 忠昭, 長谷川 修司

    日本物理学会講演概要集   53 ( 1 )   305 - 305   1998年3月( ISSN：1342-8349 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

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  • 7a-PS-21 UHV-SEM/SREMによるSi(111)-√<21>×√<21>-(Ag+Au)の形成過程の観察

    白木 一郎, 鳥山 啓之亮, 長尾 忠昭, 長谷川 修司

    日本物理学会講演概要集   52 ( 2 )   360 - 360   1997年9月( ISSN：1342-8349 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（全国大会，その他学術会議）   出版者・発行元：一般社団法人日本物理学会  

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書籍等出版物

  • 半導体表面での電子輸送 &#8212;点接触トランジスタから多探針STM 重要な業績

    長谷川修司，白木一郎, 田邊輔仁，Francois Grey（ 範囲: -）

    2001年10月 

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    担当ページ：1165-1171   記述言語：日本語  

    学会誌の表紙を飾りました

講演・口頭発表等

  • 局所直流計測および交流計測によるプルシアンブルー類似体の湿度依存した電気伝導度評価 重要な業績

    佐藤 裕貴, 吉田 優介, 白木 一郎

    日本物理学会　第79回年次大会（2024年）  2024年9月  日本物理学会

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    開催年月日： 2024年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：北海道大学   国名：日本国  

  • 多探針法を用いた局所電気伝導度計測によるプルシアンブルー類似体の酸化依存電気伝導度の評価 重要な業績

    白木一郎、大村貴輝、大木祐太

    日本物理学会　2019年秋季大会  2019年9月  日本物理学会

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    開催年月日： 2019年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：岐阜大学  

  • 多探針法を用いた局所電気伝導度計測によるプルシアンブルー類似体の酸化依存電気伝導度の評価

    白木一郎, 大村貴輝, 大木祐太

    日本物理学会２０１９年秋季大会  2019年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • プルシアンブルー類似体の鉄酸化状態に依存した局所電気伝導度の多探針法計測 IV

    大村貴輝, 内野博仁, 白木一郎（白木研究室学生および本人）　

    日本物理学会　2018年秋季大会  2018年9月  日本物理学会

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    開催年月日： 2018年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：同志社大学  

  • プルシアンブルー類似体の鉄酸化状態に依存した 局所電気伝導度の多探針法計測Ⅳ

    大村貴輝, 内野博仁, 白木一郎

    日本物理学会２０１８年秋季大会  2018年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • 局所融解法による カーボンナノチューブ担持探針の準備の試み

    川辺拓実, 竹内嵩裕, 秋山幸次郎, 白木一郎

    日本物理学会２０１８年秋季大会  2018年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • 宇宙線μSRラジオグラフィ法の開発　－巨大建造物の化学的物理的状態の診断－

    藤牧拓郎,　永嶺謙忠, 鳥養映子, 白木一郎, 斎藤成彦,　三原基嗣, 下村浩一郎, Amba Datt Pant

    2017年度量子ビームサイエンスフェスタ  2018年3月  高エネルギー加速器研究機構・物質構造科学研究所，J-PARCセンター，総合科学研究機構 (CROSS) ， PF-ユーザアソシエーション (PF-UA) ，J-PARC MLF利用者懇談会

    　詳細を見る

    開催年月日： 2018年3月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：茨城県立県民文化センター  

  • mSRの生命科学への展開へ向けて －タンパク質におけるミュオン停止位置の解析－

    菅原洋子、藤田貴久、柳原功、山村滋典、A. D. Pant、幸田章宏、下村浩一郎、髭本亘、石田勝彦、 楠木正巳、三輪（有賀）寛子，F. L. Pratt、藤牧拓郎、白木一郎、鳥養映子、永嶺謙忠

    2017年度量子ビームサイエンスフェスタ  2018年3月  高エネルギー加速器研究機構・物質構造科学研究所，J-PARCセンター，総合科学研究機構 (CROSS) ， PF-ユーザアソシエーション (PF-UA) ，J-PARC MLF利用者懇談会

    　詳細を見る

    開催年月日： 2018年3月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：茨城県立県民文化センター  

  • 宇宙線ミュオンによる巨大建造物非破壊診断のための鉄鋼材料のμSR

    藤牧拓郎, 鳥養映子, 白木一郎, 斎藤成彦, 三原基嗣, 下村浩一郎, Amba Datt Pant, 永嶺謙忠　

    日本物理学会　2017年秋季大会  2017年9月  日本物理学会

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    開催年月日： 2017年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：岩手大学  

  • 宇宙線ミュオンによる巨大建造物非破壊診断のための鉄鋼材料のμSR

    藤牧拓郎, 鳥養映子, 白木一郎, 斎藤成彦, 三原基嗣, 下村浩一郎, Amba Datt Pant, 永嶺謙忠

    日本物理学会２０１７年秋季大会  2017年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • プローブ顕微鏡技術を用いたカーボンナノチューブ担持探針の準備の試み

    竹内嵩裕, 川辺拓実, 外川翔太, 白木一郎（白木研究室学生および本人）　

    日本物理学会　2017年秋季大会  2017年9月  日本物理学会

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    開催年月日： 2017年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：岩手大学  

  • プルシアンブルー類似体の鉄酸化状態に依存した局所電気伝導度の多探針法計測 III

    大村貴輝, 眞野紘輔, 白木一郎（白木研究室学生および本人）　

    日本物理学会　2017年秋季大会  2017年9月  日本物理学会

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    開催年月日： 2017年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • プルシアンブルー類似体の鉄酸化状態に依存した局所電気伝導度の多探針法計測 Ⅲ

    大村貴輝, 眞野紘輔, 白木一郎

    日本物理学会２０１７年秋季大会  2017年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • プローブ顕微鏡技術を用いたカーボンナノチューブ担持探針の準備の試み

    竹内嵩裕, 川辺拓実, 外川翔太, 白木一郎

    日本物理学会２０１７年秋季大会  2017年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • Development of cosmic-ray muon spin rotation radiography to investigate chemical and physical states of steels in large-scale architecture 国際会議

    T.FUJIMAKI, K. NAGAMINE, E.TORIKAI, I.SHIRAKI, S.SAITO, M. MIHARA, A.D.PANT

    The 35th International Cosmic Ray Conference 2017  2017年7月  2017 International Cosmic Ray Conference Committee

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    開催年月日： 2017年7月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：Busan Exhibition & Convention Center (BEXCO) in Busan, South Korea  

  • Development of cosmic-ray muon spin rotation radiography to investigate chemical and physical states of steels in large-scale architecture 国際会議

    T. Fujimaki, K. Nagamine, E.Torikai, I.Shiraki, S.Saito, M. Mihara, A.D.Pant

    The 35th International Cosmic Ray Conference 2017, Busan Exhibition & Convention Center (BEXCO) in Busan, South Korea  2017年7月 

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    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • Determination of muon location in cytochrome c by paramagnetic shift and LCR 国際会議

    Y. Sugawara, T. Fujita, I. Yanagihara, S. Yamamura, K. Suzuki, A. D. Pant, H. Ariga, W. Higemoto, K. Shimomura, F. Pratt, K. Ishida, T. Fujimaki, I. Shiraki, E. Torikai, and K. Nagamine

    The 14th International Conference on Muon Spin Rotation, Relaxation and Resonance  2017年6月  The µSR conference, Hokkaido University (Graduate School of Science and Institute for Catalysis), the Society of Muon and Meson Science of Japan and the High Energy Accelerator Research Organization (KEK)

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    開催年月日： 2017年6月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：Hokkaido University  

  • Determination of muon location in cytochrome c by paramagnetic shift and LCR 国際会議

    Y. Sugawara, T. Fujita, I. Yanagihara, S. Yamamura, K. Suzuki, A. D. Pant, H. Ariga, W. Higemoto, K. Shimomura, F. Pratt, K. Ishida, T. Fujimaki, I. Shiraki, E. Torikai, K. Nagamine

    The 14th International Conference on Muon Spin Rotation, Relaxation and Resonance  2017年6月 

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    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • Progress in Iron reinforced Concrete Building Examination by　Cosmic-ray Muon Spin Rotation 国際会議

    T.FUJIMAKI, E.TORIKAI, I.SHIRAKI, S.GOTO, S.SAITO, M. MIHARA, A.D.PANT, K.NAGAMINE

    The 14th International Conference on Muon Spin Rotation, Relaxation and Resonance  2017年6月  The µSR conference, Hokkaido University (Graduate School of Science and Institute for Catalysis), the Society of Muon and Meson Science of Japan and the High Energy Accelerator Research Organization (KEK)

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    開催年月日： 2017年6月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • Progress in Iron reinforced Concrete Building Examination by Cosmic-ray Muon Spin Rotation 国際会議

    T. Fujimaki, E. Torikai, I. Shiraki, S. Goto, S. Saito, M. Mihara, A.D.Pant, K. Nagamine

    The 14th International Conference on Muon Spin Rotation, Relaxation and Resonance  2017年6月 

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    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • プルシアンブルー類似体の鉄酸化状態に依存した局所電気伝導度の多探針法計測Ⅱ

    眞野紘輔,竹内嵩裕,源拓洋,白木一郎（白木研究室学生および本人）　

    日本物理学会　第72回年次大会  2017年3月  日本物理学会

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    開催年月日： 2017年3月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：大阪大学  

  • プルシアンブルー類似体の鉄酸化状態に依存した局所電気伝導度の多探針法計測Ⅱ

    眞野紘輔, 竹内嵩裕, 源拓洋, 白木一郎

    日本物理学会第72回年次大会  2017年3月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • 多探針プローブ顕微鏡によるプルシアンブルー類似体の局所電気伝導度計測 招待 重要な業績

    白木一郎

    マイクロビームアナリシス第141委員会　第164回研究会  2016年6月  日本学術振興会　マイクロビームアナリシス第141委員会

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    開催年月日： 2016年6月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：株式会社 堀場製作所 東京オフィス 2階プレミアムホール  

  • 多探針プローブ顕微鏡によるプルシアンブルー類似体の局所電気伝導度計測 招待

    白木一郎

    マイクロビームアナリシス第141委員会 第164回研究会  2016年6月 

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    記述言語：日本語   会議種別：公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等  

  • プルシアンブルー類似体の鉄酸化状態に依存した局所電気伝導度の多探針法計測 重要な業績

    眞野紘輔,竹内嵩裕,坂上僚,源拓洋,白木 一郎（白木研究室学生および本人）

    日本物理学会　第７１回年次大会  2016年3月  日本物理学会

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    開催年月日： 2016年3月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：東北学院大学  

  • プルシアンブルー類似体の鉄酸化状態に依存した局所電気伝導度の多探針法計測

    眞野紘輔, 竹内嵩裕, 坂上僚, 源拓洋, 白木一郎

    日本物理学会第71回年次大会  2016年3月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • スピン偏極原子クラスターの形成と計測に向けて その4

    塚本光信,窪田翔,真部章,白木一郎,伊藤治彦,鳥養映子

    日本物理学会第70回年次大会  2015年3月 

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    開催年月日： 2015年3月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：早稲田大学  

  • スピン偏極原子クラスターの形成と計測に向けて その4

    塚本光信, 窪田翔, 真部章, 白木一郎, 伊藤治彦, 鳥養映子

    日本物理学会第70回年次大会  2015年3月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • μSR によるシトクロムc における電子伝達速度の解析 国際会議

    柳原功,菅原洋子,A. D. Pant,G. P. Khanal,白木一郎,髭本亘,下村浩一郎,石田勝彦,F.L. Pratt,鳥養映子,永嶺謙忠

    第３回超低速ミュオン領域会議公開シンポジウム  2014年9月 

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    開催年月日： 2014年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：東北大学  

  • High resolution STM imaging of a unit cell of SrTiO3 (100)-√5×√5-R26.6° surface superstructures 国際会議

    Ichiro SHIRAKI,Kazushi MIKI

    第３回超低速ミュオン領域会議公開シンポジウム  2014年9月 

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    開催年月日： 2014年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：東北大学  

  • スピン偏極冷却Cs原子の自己組織化-超低速ミュオンによるクラスタースピン計測を目指して- 国際会議

    塚本光信,真部章,窪田翔,白木一郎,伊藤治彦,鳥養映子

    第３回超低速ミュオン領域会議公開シンポジウム  2014年9月 

    　詳細を見る

    開催年月日： 2014年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：東北大学  

  • Ichiro SHIRAKI, Kazushi MIKI, “High resolution STM imaging of a unit cell of SrTiO3 (100)-√5×√5-R26.6° surface superstructures

    Ichiro SHIRAKI, Kazushi MIKI

    第３回超低速ミュオン領域会議公開シンポジウム  2014年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：シンポジウム・ワークショップ パネル（公募）  

  • μSR によるシトクロムc における電子伝達速度の解析

    柳原功, 菅原洋子, A. D. Pant, G. P. Khanal, 白木一郎, 髭本亘, 下村浩一郎, 石田勝彦, F.L. Pratt, 鳥養映子, 永嶺謙忠

    第３回超低速ミュオン領域会議公開シンポジウム  2014年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：シンポジウム・ワークショップ パネル（公募）  

  • スピン偏極冷却Cs原子の自己組織化-超低速ミュオンによるクラスタースピン計測を目指して

    塚本光信, 真部章, 窪田翔, 白木一郎, 伊藤治彦, 鳥養映子

    第３回超低速ミュオン領域会議公開シンポジウム  2014年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：シンポジウム・ワークショップ パネル（公募）  

  • 多探針法によるプルシアンブルー類似体の局所電気伝導度計測の試み 重要な業績

    尾崎昂志,西智洋,榎本翔,源拓洋,白木一郎（白木研究室学生および本人）

    日本物理学会２０１４年秋季大会  2014年9月 

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    開催年月日： 2014年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：中部大学  

  • 多探針法によるプルシアンブルー類似体の局所電気伝導度計測の試み

    尾崎昂志, 西智洋, 榎本翔, 源拓洋, 白木一郎

    日本物理学会２０１４年秋季大会  2014年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • MUONIUM RESPONSE TO OXYGEN CONTENT IN HEMOGLOBIN AQUEOUS SOLUTION FOR CANCER RESEARCH

    A.D. Pant,K. Nagamine,I. Shiraki,K. Shimomura,F.L. Pratt,H. Ariga,K. Ishida,J.S. Schultz,E. Torikai

    3rd International Seminar on Green Energy Conversioun  2014年8月 

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    開催年月日： 2014年8月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Yatsugatake RoyalHotel  

  • Electron transfer in cytochrome c of wet and dry samples monitored by mSR

    Y. Sugawara,A. D. Pant,I. Shiraki,W. Higemoto,K. Shimomura,K. Ishida,F. L. Pratt,E. Torikai,K. Nagamine

    The International Conference on Muon Spin Rotation, Relaxation and Resonance (muSR2014)  2014年6月 

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    開催年月日： 2014年6月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Grindelwald, Switzerland  

  • Electron transfer in cytochrome c of wet and dry samples monitored by mSR 国際会議

    Y. Sugawara, A. D. Pant, I. Shiraki, W. Higemoto, K. Shimomura, K. Ishida, F. L. Pratt, E. Torikai, K. Nagamine

    The International Conference on Muon Spin Rotation, Relaxation and Resonance (muSR2014)  2014年6月 

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    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • STMを用いたSrTiO3表面の平坦性と還元条件の評価 重要な業績

    藤牧拓郎,渡辺達也,三木一司,白木一郎

    日本物理学会　第６９回年次大会  2014年3月  日本物理学会

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    開催年月日： 2014年3月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：東海大学湘南キャンパス  

  • STMを用いたSrTiO3表面の平坦性と還元条件の評価

    藤牧拓郎, 渡辺達也, 三木一司, 白木一郎

    日本物理学会第69回年次大会  2014年3月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • QUARTZ MICROBALANCE COVERED BY SOLID RARE GAS - AN IDEAL SUBSTRATE TO STUDY INTERRELATION BETWEEN SPIN AND GEOMETRIC ARRANGEMENT IN SPIN CLUSTER 国際会議

    A. Manabe,S. Kubota,I. Shiraki,E.Torikai

    International Symposium on Science Explored by Ultra Slow Muon (USM2013)  2013年8月 

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    開催年月日： 2013年8月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • PRODUCE HIGH DENSITY COLD ATOMS FOR THE GENERATION OF SPIN CLUSTER

    S. Kubota,A. Manabe,I. Shiraki,S. Yamada,H. Ito,E. Torikai

    International Symposium on Science Explored by Ultra Slow Muon(USM2013)  2013年8月 

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    開催年月日： 2013年8月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Matusue  

  • Self-assembling of spin-polarized cold cesium atoms - Future target of ultra slow muon

    S. Kubota,A. Manabe,I. Shiraki,H. Ito,S. Yamada,E. Torikai

    International Symposium on Science Explored by Ultra Slow Muon(USM2013)  2013年8月 

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    開催年月日： 2013年8月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Matusue  

  • QUARTZ MICROBALANCE COVERED BY SOLID RARE GAS - AN IDEAL SUBSTRATE TO STUDY INTERRELATION BETWEEN SPIN AND GEOMETRIC ARRANGEMENT IN SPIN CLUSTER 国際会議

    A. Manabe, S. Kubota, I. Shiraki, E.Torikai

    International Symposium on Science Explored by Ultra Slow Muon (USM2013)  2013年8月 

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    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • Self-assembling of spin-polarized cold cesium atoms - Future target of ultra slow muon 国際会議

    S. Kubota, A. Manabe, I. Shiraki, H. ItoA, S. YamadaA, E. Torikai

    International Symposium on Science Explored by Ultra Slow Muon(USM2013)  2013年8月 

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    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • スピン偏極原子クラスターの形成と計測に向けて　-その3：高密度化と希ガス基板形成

    平井俊光,冨澤悠,白木一郎,伊藤治彦,山田俊吾,佐藤知広,鳥養映子

    日本物理学会　２０１２年秋季大会  2012年9月  日本物理学会

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    開催年月日： 2012年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：横浜国立大学  

  • スピン偏極原子クラスターの形成と計測に向けて その2：冷却スピン偏極原子団生成

    橋本智彦, 野澤武志, 平井俊光, 冨澤悠, 田辺昌太, 白木一郎, 山田俊吾, 佐藤知広, 伊藤治彦, 鳥養映子

    日本物理学会第67回年次大会  2012年3月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • 部分接合法による水晶振動子の金電極表面の改質

    渡邉僚志, 中島夏輝, 平井俊光, 白木一郎, 鳥養映子

    日本物理学会第67回年次大会  2012年3月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • High resolution STM imaging of a unit cell of SrTiO3(100)-√5×√5－R26.6°surface superstructures 国際会議 重要な業績

    Ichiro SHIRAKI,Kazushi MIKI

    APS March Meeting 2012  2012年2月  American Physical Society

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    開催年月日： 2012年2月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Boston Convention Center, Boston, MA, USA  

  • High resolution STM imaging of a unit cell of SrTiO3(100)- √5×√5−R26.6° surface superstructures 国際会議

    Ichiro SHIRAKI, Kazushi MIKI

    American Physical Society March Meeting 2012  2012年2月 

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    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • High resolution scanning tunneling microscope (STM) image of SrTiO3(100)-√5×√5－R26.6°surface 国際会議 重要な業績

    Ichiro SHIRAKI,Kazushi MIKI

    APS March Meeting 2011  2011年3月  American Physical Society

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    開催年月日： 2011年3月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Dallas Convention Center, Dallas, TX, USA  

  • High resolution scanning tunneling microscope (STM) image of SrTiO3(100)-√5×√5−R26.6°surface 国際会議

    Ichiro SHIRAKI, Kazushi MIKI

    American Physical Society March Meeting 2011  2011年3月 

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    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • スピン偏極ミュオンを用いたn型GaAs中伝導電子スピンの直接的観測

    横山幸司, 永嶺謙忠, 下村浩一郎, Harry Tom,Rola, d Kawakami, Pavel Bakule, 松田恭行, 石田勝彦, 大石一城, Francis Pratt, 白木一郎, 鳥養映子

    日本物理学会秋季大会  2010年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • スピン偏極原子クラスターの形成と計測に向けて：レーザー冷却原子の高密度化

    橋本智彦, 野澤武志, 田中政光, 白木一郎, 山田俊吾, 佐藤智広, 伊藤治彦, 鳥養映子

    日本物理学会秋季大会  2010年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • Are Spin Polarized Atoms Clustering?

    M. Tanaka,Y. Kobayashi,T. Hashimoto,T. Nozawa,R. Watanabe,N. Nakashima,I. Shiraki,他4名

    First Asia-Europe Physics Summit (ASEPS)  2010年3月 

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    開催年月日： 2010年3月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：EPOCAL, Tsukuba, JAPAN  

  • Are Spin Polarized Atoms Clustering? 国際会議

    M. Tanaka, Y. Kobayashi, T. Hashimoto, T. Nozawa, R. Watanabe, N. Nakashima, I. Shiraki, S.Yamada, T. Sato, H. Ito, E. Torikai

    First Asia-Europe Physics Summit (ASEPS)  2010年3月 

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    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • ミュオニウムスピン交換法による半導体(Si,GaAs)中の伝導電子スピン偏極測定

    鳥養映子,白木一郎,永嶺謙忠,下村浩一郎,Pavel Bacule,他10名

    日本物理学会第６５回年次大会  2010年3月  日本物理学会

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    開催年月日： 2010年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：岡山大学  

  • Electronic Transport through Surface Nanostructures Measured by Micro Four Probes and Four-Tip STM 重要な業績

    Ichiro SHIRAKI

    Special Seminar  2010年2月  Dept. of Physics & Astronomy

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    開催年月日： 2010年2月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：University of California, Riverside  

  • Electronic Transport through Surface Nanostructures Measured by Micro Four Probes and Four-Tip STM 招待 国際会議

    Ichiro SHIRAKI

    Special Seminar, Dept. of Physics & Astronomy, University of California, Riverside  2010年2月 

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    記述言語：英語   会議種別：公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等  

  • ミュオニウムスピン交換法による半導体(Si,GaAs)中の伝導電子スピン偏極測定

    鳥養映子, 白木一郎, 永嶺謙忠, 下村浩一郎, Pavel Bacule, 石田勝彦, 大石一城, 竹田美和, 宇治原徹, 坂貴, 加藤俊宏, 横山浩司

    日本物理学会第65回年次大会  2010年2月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • Reconsideration of SrTiO3(100)-√5×√5-R26.6 surfaces - existence of O-vacancy and Sr adatom 国際会議 重要な業績

    Ichiro SHIRAKI,Kazushi MIKI

    APS March Meeting 2009  2009年3月  American Physical Society

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    開催年月日： 2009年3月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：David L. Lawrence Convention Center, Pittsburgh, PA, USA  

  • Reconsideration of SrTiO3(100)-√5×√5-R26.6 surfaces - existence of O-vacancy and Sr adatom 国際会議

    Ichiro Shiraki, Kazushi Miki

    American Physical Society March Meeting 2009  2009年3月 

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    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

  • Cs_nクラスターにおけるスピンと構造の相関

    鳥養映子,白木一郎,Sudha Srinivas

    2007年9月  日本物理学会

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    開催年月日： 2007年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：北海道大学  

  • Cs_nクラスターにおけるスピンと構造の相関

    鳥養映子, 白木一郎, Sudha Srinivas

    日本物理学会第62回年次大会  2007年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • MgO(100)上のAr単結晶薄膜成長条件

    井上大輔, 鈴木達也, 白木一郎, 鳥養映子

    日本物理学会第62回年次大会  2007年9月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • MgO(100)上のAr単結晶薄膜成長条件

    井上大輔,鈴木達也,白木一郎,鳥養映子

    2007年9月  日本物理学会

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    開催年月日： 2007年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：北海道大学  

  • STMによるSrTiO3(100)表面の占有状態観察 重要な業績

    白木一郎,三木一司

    春季第５３回応用物理学会関係連合講演会  2006年3月 

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    開催年月日： 2006年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：武蔵工業大学世田谷キャンパス  

  • Low temperature atomic force microscope with atomic resolution using piezoresistive cantilevers 重要な業績

    Ichiro Shiraki, Kazushi Miki

    JSPS A3 Foresight Program “Sub-10 nm Wires” Seminar  2006年2月  JSPS

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    開催年月日： 2006年2月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Funabashi, Chiba, Japan  

  • Low temperature atomic force microscope with atomic resolution using piezoresistive cantilevers 国際会議

    JSPS A3 Foresight Program “Sub-10 nm Wires” Seminar  2006年 

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    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

  • STMによるSrTiO3(100)表面の占有状態観察 重要な業績

    春季第５３回応用物理学会関係連合講演会  2006年 

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    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • ピエゾ抵抗検出型AFM による極低温原子分解能観察 重要な業績

    白木一郎,宮武 優,佐々木徹,山本雄高,長村俊彦,三木一司

    第５１回応用物理学会関係連合講演会  2005年3月  応用物理学会

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    開催年月日： 2005年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：埼玉大学  

  • ピエゾ抵抗検出型AFM による極低温原子分解能観察

    第５１回応用物理学会関係連合講演会  2005年 

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    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • 極低温AFM観察に向けたピエゾ抵抗効果型カンチレバーの開発

    白木一郎,Lee Seung Seoup,宮武　優,小野崇人,長村俊彦,Shuheng Pan,三木一司

    春季第５１回応用物理学会関係連合講演会  2004年3月 

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    開催年月日： 2004年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：東京工科大学  

  • 多端子プローブ顕微鏡のための二次元校正基板の開発

    矢代航,白木一郎,三木一司

    春季第５０回応用物理学会関係学術講演会  2003年3月 

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    開催年月日： 2003年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：神奈川大学・横浜キャンパス  

  • Transport at Surface Nanostructures Measured by Micro Four Probes and Four-Tip STM 重要な業績

    Ichiro Shiraki, Taizo Kanagawa, Fuhito Tanabe, Takehiro Tanikawa,Rei Hobara, Iwao Matsuda, Shuji Hasegawa

    2002年10月  TcSAM, Univ. of Houston

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    開催年月日： 2002年10月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：University of Houston, USA  

  • Surface-state electronic transport measured by microscopic four-point probes

    S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, T. Tanikawa,R. Hobara, T. Kanagawa, I. Matsuda

    2002年10月  APSIAC'02

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    開催年月日： 2002年10月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：TOKYO  

  • Direct measurements of surface conductivity by microscopic four-point probes

    S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, T. Tanikawa,R. Hobara, T. Kanagawa, I. Matsuda

    5th Russia-Japan Seminar on Semiconductor Surfaces  2002年9月 

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    開催年月日： 2002年9月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Vladivostok, Russia  

  • ４探針ＳＴＭによる表面電気伝導測定

    保原麗,金川泰三,白木一郎,松田巌,長谷川修司

    日本物理学会第５７回年次大会  2002年3月 

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    開催年月日： 2002年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：立命館大、滋賀  

  • Towards nanoscale four-point probe measurements of conductivity at surfaces

    T. M. Hansen, P. Boggild, I. Shiraki, and S. Hasegawa

    March Meeting of The American Physical Society  2002年3月  The American Physical Society

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    開催年月日： 2002年3月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Indianapolis, USA  

  • Electrical transport through surface states measured by a four-tip STM

    S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe

    March Meeting of The American Physical Society  2002年3月  The American Physical Society

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    開催年月日： 2002年3月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：Indianapolis, USA  

  • Measurements of electronic conductivities on the Si(111)-7×7 clean surface and Si(111)-√3×√3-Ag surface

    I. Shiraki

    CAMP Colloquium  2002年2月  Univ. of Aarhus

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    開催年月日： 2002年2月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Aarhus, Denmark  

  • マイクロ４端子法による電気伝導の測定

    谷川雄洋,白木一郎,F.Grey,長谷川修司

    日本表面科学会第21回表面科学講演大会  2001年11月 

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    開催年月日： 2001年11月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：東京  

  • Surface Sheet Conductance measured by Micro-Four-Probe Method

    T. Tanikawa, S. Hasegawa, I. Shiraki, T. M. Hansen,P. Boggild, and F. Grey

    57th Yamada Conference on Atomic-scale surface designing for fuctional low-dimensional materials  2001年11月 

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    開催年月日： 2001年11月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Tsukuba, Japan  

  • 独立駆動型四探針STM装置による表面電気伝導の測定

    田邊輔仁,白木一郎,保原麗,長尾忠昭,長谷川修司

    日本物理学会 第５６回年次大会  2001年3月 

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    開催年月日： 2001年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：中央大学  

  • マイクロ４端子法による電気伝導の測定

    谷川雄洋,白木一郎,長尾忠昭,長谷川修司

    日本物理学会 第５６回年次大会  2001年3月 

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    開催年月日： 2001年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • Independently drivenfour-tip UHV-STM 重要な業績

    I. Shiraki, F. Tanabe,R. Hobara, T. Nagao,S. Hasegawa

    251st WE-Heraeus Seminar on 2D Conductivity in SurfaceStates and Monolayers  2001年3月  251st WE-Heraeus Seminar

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    開催年月日： 2001年3月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Bad Honnef, Germany  

  • Microscopic four-point probes for surface conductivity measurements

    S. Hasegawa, I. Shiraki, C. L. Petersen, F. Grey, T. M. Hansen,P. Boggild, T. Tanikawa, F. Tanabe, and T. Nagao

    251st WE-Heraeus Seminar on 2D Conductivity in Surface States and Monolayers  2001年3月 

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    開催年月日： 2001年3月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Bad Honnef, Germany  

  • 独立駆動型４探針STMによる表面電気伝導の研究

    白木一郎,田邊輔仁,保原麗,長尾忠昭,長谷川修司

    文部省科学研究費補助金創成的基礎研究費 「表面・界面-異なる対称性の接点の物性」平成12年度 年度末研究報告会  2001年1月 

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    開催年月日： 2001年1月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：東工大  

  • Surface-state electronic transport measured by microscopic four-point probes

    S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, T. M. Hansen, and F. Grey

    The Symposium on Surface Science 2001  2001年1月 

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    開催年月日： 2001年1月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：Furano, Japan  

  • ４探針STMの開発とそれによる表面電気伝導の測定

    白木一郎,田邊輔仁,保原麗,長尾忠昭,長谷川修司

    科学技術振興事業団 戦略的基礎研究「量子効果等の物理」第４回シンポジウム  2000年12月 

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    開催年月日： 2000年12月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：東京  

  • Independently driven four-tip UHV-STM 重要な業績

    I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Nagao, and S. Hasegawa

    The 8th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy and Asian SPM-3  2000年12月 

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    開催年月日： 2000年12月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Atagawa, Japan  

  • Conductivity measurements in micro- and nanometer-scale regions on surfaces

    S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, T. Nagao, and F. Grey

    The 4th Japan-Russia Seminar on Semiconductor Surfaces  2000年11月 

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    開催年月日： 2000年11月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：Nagoya, Japan  

  • Surface electromigration and phase transformation of Ag and Cu on Si(111) surfaces modified by Au and Cu

    F. X. Shi, I. Shiraki, T. Nagao, and S. Hasegawa

    International Symposium on Surface and Interfaces -Properties of Different Symmetry Crossing-  2000年10月 

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    開催年月日： 2000年10月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Nagoya, Japan  

  • Surface conductivity measurements by micro- and nano-four-point probes 重要な業績

    I. Shiraki, F. Tanabe, T. Nagao, F. Grey, and S. Hasegawa

    International Symposium on Surface and Interfaces -Properties of Different Symmetry Crossing-  2000年10月 

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    開催年月日： 2000年10月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Nagoya. Japan  

  • Electronic transport through surface-state bands

    I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Boggild, T. M. Hansen,F. Tanabe, T. Nagao, F. Grey, S. Hasegawa

    25th International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS25)  2000年9月 

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    開催年月日： 2000年9月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Osaka, Japan  

  • Micro-four-point probes for surface-sensitive conductivity measurements

    I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Boggild, T. M. Hansen, T. Nagao,F. Grey, and S. Hasegawa

    10th International Conference on Solid Films and Surfaces  2000年7月 

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    開催年月日： 2000年7月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Princeton Univ., USA  

  • 独立駆動型４端子STM装置の開発

    田邊輔仁,白木一郎,長尾忠昭,長谷川修司

    日本物理学会春の年会  2000年3月 

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    開催年月日： 2000年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：関西大学  

  • 独立駆動型４端子STMによる表面電気伝導の測定

    白木一郎,田邊輔仁,長尾忠昭,長谷川修司

    日本物理学会春の年会  2000年3月 

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    開催年月日： 2000年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：関西大学  

  • マイクロおよびナノ４端子法による局所表面電気伝導の測定

    長谷川修司,長尾忠昭,白木一郎

    文部省科学研究費補助金創成的基礎研究費「表面・界面 --- 異なる対称性の接点の物性」研究会  2000年1月 

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    開催年月日： 2000年1月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：東京工業大学  

  • Electronic transport through surface-state bands 国際共著 国際会議

    25th International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS25)  2000年 

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    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

  • 局所表面電気伝導の測定 --- マイクロ４端子プローブと４探針STM

    長谷川修司,長尾忠昭,白木一郎, C. L. Petersen,P. Boggild,T. Hansen,F. Grey

    科学技術振興事業団 戦略的基礎研究「量子効果等の物理」第３回シンポジウム  1999年12月 

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    開催年月日： 1999年12月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：東京  

  • Surface electromigration of Ag and In atoms on Au-induced superstructures on Si(111)

    S. Hasegawa, F. Shi, I. Shiraki, and T. Nagao

    International Symposium on Surface Science for Micro- and Nano-Device Fabrication (ISSS-3)  1999年11月 

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    開催年月日： 1999年11月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Tokyo, Japan  

  • Micro-four-point probes for local surface conductivity measurements in UHV

    S. Hasegawa, I. Shiraki, C. L. Petersen, P. Boggild,T. Hansen, and F. Grey

    International Symposium on Surface Science for Micro- and Nano-Device Fabrication (ISSS-3)  1999年11月 

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    開催年月日： 1999年11月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Tokyo, Japan  

  • μ-4 probe 内蔵 UHV-SEM-SREM による表面電気伝導のその場観察 重要な業績

    白木一郎,田邊輔仁, P. Boggild,C. L. petersen, F. Grey,長尾忠昭,長谷川修司

    日本物理学会秋の分科会  1999年9月 

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    開催年月日： 1999年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：岩手大学  

  • マイクロおよびナノ４端子プローブ法による局所表面電気伝導の研究

    白木一郎,長尾忠昭,長谷川修司

    科学技術振興事業団 戦略的基礎研究「量子効果等の物理現象領域 --人工ナノ構造の機能探索」青野グループ研究会  1999年8月 

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    開催年月日： 1999年8月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：箱根  

  • Electromigration of Ag on Au covered Si(111) surface studied by &#181;-probe RHEED and SEM

    F. X. Shi, 白木一郎,長尾忠昭,長谷川修司

    日本物理学会秋の分科会  1998年9月 

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    開催年月日： 1998年9月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：沖縄国際大学  

  • UHV-SEM-SREM-RHEED-STM によるSi(111)-(Ag+Au) 二次元表面合金相の形成過程の観察

    白木一郎,鳥山啓之亮,長尾忠昭,長谷川修司

    日本物理学会 春の年会  1998年3月 

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    開催年月日： 1998年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：日本大学  

  • Electromigration of Ag on Au covered Si(111) surface studied by &micro;-probe RHEED and SEM

    日本物理学会秋の分科会  1998年 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • SEM-SREM-RHEEDによるSi(111)-(Ag+Au)二元表面合金相の形成過程の観察

    白木一郎，鳥山啓之亮，長尾忠昭，長谷川修司

    創成的基礎研究「表面・界面 － 異なる対称性の接点の物性 －」 平成９年度第２回研究会  1997年10月 

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    開催年月日： 1997年10月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：東京工業大学  

  • SEM-SREM-RHEEDによるSi(111)-(Ag+Au)二元表面合金相の形成過程の観察

    白木一郎,鳥山啓之亮,長尾忠昭,長谷川修司

    創成的基礎研究「表面・界面 --- 異なる対称性の接点の物性 ---」 平成９年度第２回研究会  1997年10月 

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    開催年月日： 1997年10月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：東京工業大学  

  • UHV-SEM/SREM によるSi(111)-√21×√21-(Ag+Au) の形成過程の観察

    白木一郎,鳥山啓之亮,長尾忠昭,長谷川修司

    日本物理学会 秋の分科会  1997年10月 

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    開催年月日： 1997年10月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：神戸大学  

  • Observation of Si(111)-√21×√21-(Ag+Au) formation process by UHV-SEM/SREM

    I. Shiraki,K. Toriyama,T. Nagao,S. Hasegawa

    Japan-Germany Seminar on Mechanisms of Epitaxy and Properties of Coherent Thin Films  1997年9月 

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    開催年月日： 1997年9月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：日光  

  • 超高真空SEM-STM複合分析装置によるSi表面の観察

    白木 一郎, 遠井 茂男, 井藤 浩志, 市ノ川 竹男

    日本物理学会 春の年会  1996年3月 

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    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • Combination of ultra-high vacuum scanning tunneling microscope with scanning electron microscope 重要な業績

    I.Shiraki, T.Yasumatu, A.Ninomiya S.Tohi, H.Itoh,T.Ichinokawa

    MicroCOSMOPOLITAN(ACEM-14th & IUMAS 1st & MSA-9th)  1996年2月 

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    開催年月日： 1996年2月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Sydney, Australia  

  • Combination of ultra-high vacuum scanning tunneling microscope with scanning electron microscope 国際会議

    I.Shiraki, T.Yasumatu, A.Ninomiya S.Tohi, H.Itoh, T.Ichinokawa

    MicroCOSMOPOLITAN(ACEM-14th & IUMAS 1st & MSA-9th)  1996年2月 

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    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

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産業財産権

  • 多探針走査型顕微鏡の探針相対位地校正テンプレート

    白木一郎, 三木一司, 矢代航

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    出願番号：特願2002-295374  出願日：2002年10月

受賞

  • 平成24年度優秀教員奨励制度 特別表彰

    2012年7月   山梨大学  

    白木 一郎

学外あるいは所属学部等外の組織との共同研究

  • スピン輸送現象の実空間その場観察手法の開発

    東京大学　大学院理学研究科　物理学教室　長谷川修司研究室（保原麗　特任研究員）

    2018年04月01日 - 2023年03月31日  分担

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    多探針顕微鏡装置の低温化改良とそれを用いたスピン注入・検出プローブの動作検証

  • 走査型プローブ顕微鏡を用いた材料の局所機能性測定に関する研究

    物質・材料研究機構

    2009年06月13日 - 2014年03月31日  代表

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    ・局所電気伝導度測定装置の開発
    ・金属酸化物表面に関する表面超構造観察実験
    ・評価および総括

担当授業科目（学内）

  • 電気電子工学卒業論文 重要な業績

    2024年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電気電子工学研修Ⅰ 重要な業績

    2024年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電気電子工学研修Ⅱ 重要な業績

    2024年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電気電子工学研究第一Ａ 重要な業績

    2024年度  科目区分：修士（大学院）

  • 電気電子工学研究第一Ｂ 重要な業績

    2024年度  科目区分：修士（大学院）

  • 電気電子工学演習第一Ａ 重要な業績

    2024年度  科目区分：修士（大学院）

  • 電気電子工学演習第一Ｂ 重要な業績

    2024年度  科目区分：修士（大学院）

  • 電気電子工学研究第二Ａ 重要な業績

    2024年度  科目区分：修士（大学院）

  • 電気電子工学演習第二Ａ 重要な業績

    2024年度  科目区分：修士（大学院）

  • 電気電子工学演習第二Ｂ 重要な業績

    2024年度  科目区分：修士（大学院）

  • 量子工学特論

    2024年度

  • 電子応用実験 重要な業績

    2024年度

  • コミュニケーションI 重要な業績

    2024年度

  • 電気系エンジニアのための日本語リテラシ 重要な業績

    2024年度

  • 物理学実験 重要な業績

    2023年度

  • 基礎物理学I 重要な業績

    2023年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電気系エンジニアのための日本語リテラシ 重要な業績

    2023年度

  • 電気電子工学演習第二Ａ 重要な業績

    2023年度  科目区分：修士（大学院）

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担当経験のある科目（授業）

  • 電気系エンジニアのための日本語リテラシ

    2020年4月
    -
    現在
    機関名：山梨大学

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    科目区分：学部専門科目 

  • コミュニケーションI

    機関名：山梨大学

  • 電気電子工学研究（大学院）

    機関名：山梨大学

  • 電気電子工学研修

    機関名：山梨大学

  • 電気電子工学演習（大学院）

    機関名：山梨大学

  • 電気電子工学基礎ゼミ

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  • 電気電子工学卒業論文

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  • 電子応用実験

    機関名：山梨大学

  • 量子機能工学特論（大学院・博）

    機関名：山梨大学

  • 量子工学特論（大学院）

    機関名：山梨大学

  • 解析学特論（大学院）

    機関名：山梨大学

  • 科学の作法

    機関名：山梨大学

  • 物理学実験

    機関名：山梨大学

  • 基礎電気電子工学実験

    機関名：山梨大学

  • 基礎物理学I（力学）

    機関名：山梨大学

  • ソフトウェア設計及び実習

    機関名：山梨大学

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指導実績

  • 2024年度

    種別：学部（専攻科Aコース）卒業論文指導

    指導人数 ：2人 

  • 2024年度

    種別：修士（専攻科Bコース）学位論文指導

    指導人数 ：1人 

    担当教員数：1人

その他の学部学生指導

  • 2024年度

    クラス担任（期間）： 2024年 - 2027年

    初年次主担当
    新入生交歓会、保護者懇談会、新入生合宿研修などの入学時期の行事の準備および実行、ガイダンス、面談など、様々な担任業務を務めた。

その他の教育実績

  • キャリアハウス　nanoやまなし　副代表

    2024年度

修士・博士論文審査

  • 2024年度

    主査副査分類：副査

    修士 ：5人 

  • 2024年度

    主査副査分類：主査

    修士 ：1人 

  • 2023年度

    主査副査分類：主査

    修士 ：2人 

  • 2023年度

    主査副査分類：副査

    修士 ：6人 

所属学協会

  • 日本物理学会

  • 応用物理学会