2024/03/28 更新

写真a

ニノミヤ　サトシ
二宮　啓
Ninomiya Satoshi
所属
大学院　総合研究部　工学域 電気電子情報工学系（クリーンエネルギー研究センター） 教授
職名
教授
連絡先
メールアドレス

経歴

  • 山梨大学 大学院総合研究部 工学域　教授

    2022年10月 - 現在

  • 山梨大学 大学院総合研究部 工学域　准教授

    2015年4月 - 2022年10月

  • 山梨大学 大学院医学工学総合研究部 先端領域若手研究リーダー育成拠点　特任助教

    2010年4月 - 2015年3月

  • 京都大学大学院工学研究科附属量子理工学教育研究センター 特定(JST-CREST)研究員

    2009年4月 - 2010年3月

  • 日本学術振興会 特別研究員 (PD)

    2006年4月 - 2009年3月

  • 京都大学大学院工学研究科附属量子理工学研究実験センター 産学官連携研究員

    2004年4月 - 2006年3月

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学歴

  • 京都大学

    - 2004年3月

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    国名： 日本国

    備考： (事項) 京都大学大学院工学研究科原子核工学専攻博士後期課程修了 (事項_英文) Department of Nuclear Engineering, Kyoto University

    課程： 博士

  • 京都大学

    - 2001年3月

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    国名： 日本国

    備考： (事項) 京都大学大学院工学研究科原子核工学専攻修士課程修了

    課程： 修士

  • 京都大学

    - 1999年3月

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    国名： 日本国

    備考： (事項) 京都大学工学部物理工学科卒業 (事項_英文) Faculty of Physical Engineering, Kyoto University

学位

  • 博士 (工学) （ 2004年3月   京都大学, 2004 ）

研究分野

  • エネルギー / 量子ビーム科学  / イオンビーム, 二次イオン質量分析, 表面分析, 質量分析

研究キーワード

  • 質量分析

  • クラスターイオン

  • エレクトロスプレー液滴イオンビーム

  • 二次イオン質量分析

研究テーマ

  • 質量分析・表面分析用の新しいイオンビームの研究開発、および新しいイオンビームのナノテクノロジーやバイオテクノロジー分野への応用

共同研究・競争的資金等の研究

  • "近接コロナ放電イオン源によるヒトの呼気および皮膚由来成分の質量分析" 国際共著

    研究課題/領域番号：BR230405  2024年3月 - 2024年4月

    日本学術振興会  山梨大学クリーンエネルギー研究センター  外国人研究者　再招へい事業  調査研究費

    二宮 啓

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    担当区分：研究代表者  資金種別：競争的資金  資金の種類：他の外部資金

  • 分析工程の全自動化を可能とするスマートイオン源／質量分析法の開発

    研究課題/領域番号：JPMJTM20NK  2021年5月 - 2022年3月

    国立研究開発法人科学技術振興機構  研究成果最適展開支援プログラム(A-STEP)  研究成果展開事業

    二宮　啓、チェン　リーチュイン、吉村　健太郎

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    担当区分：研究代表者  資金種別：競争的資金  資金の種類：受託研究

    本課題では、前処理を含めた分析工程の全自動化を可能とするスマートイオン源／質量分析法を開発する。その方策として、あらゆる形態の試料を採取して直接質量分析できるシースフロー探針エレクトロスプレーイオン化法と、採取の自動化に必要なタッチセンサーを組み合わせる。タッチセンサーはこれまでに開発した容量敏感型のものをロックインアンプ方式により高精度化する。本技術により多数試料を、交換不要のプローブを用いて交差汚染なしの迅速自動分析(1検体10秒以内)が可能となる。これにより大学や企業の分析現場においてwith/postコロナ社会で求められる人的労力の負担軽減や課題解決スピード向上の突破口となる。

  • パルスソース型真空エレクトロスプレービーム銃の開発とTOF-SIMSへの応用

    研究課題/領域番号：21H03734  2021年4月 - 2025年3月

    日本学術振興会  科学研究費助成事業  基盤研究(B)

    二宮　啓、チェン　リーチュイン

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    担当区分：研究代表者  資金種別：競争的資金  資金の種類：科学研究費補助金

    これまでに開発してきた真空エレクトロスプレー液滴イオン(VEDI)ビームは、ビームを短パルス化できないという弱点があるため、飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)への応用を実現できていない。そこで本研究では、イオンビームのソース部を短パルス化するという全く新しい発想のもと、パルスソース型VEDIビーム銃を開発し、それをTOF-SIMSの一次イオンビームとして利用するための基盤技術を確立する。

論文

  • “Solvent effect on the detection of peptides and proteins by nanoelectrospray ionization mass spectrometry: anomalous behavior of aqueous 2-propanol” 査読 国際共著 重要な業績

    S. Ninomiya, S. Rankin-Turner, S. Akashi, K. Hiraoka,

    Analytical Biochemistry,   688   115461_1 - 7,   2024年5月( ISSN：0003-2697 )

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER  

    DOI： 10.1016/j.ab.2024.115461

    DOI： 10.1016/j.ab.2024.115461

  • “Sodiation of melittin, cytochrome c, and ubiquitin studied by electrospray mass spectrometry: Stabilities of α-helix and β-sheet in basic solutions” 査読 国際共著 重要な業績

    K. Hiraoka, S. Ninomiya, S. Rankin-Turner, S. Akashi

    International Journal of Mass Spectrometry,   498   117212_1 - 8,   2024年4月( ISSN：1387-3806 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2024.117212

    DOI： 10.1016/j.ijms.2024.117212

  • “Site-specific deprotonation/sodiation of gramicidin S studied by electrospray ionization/mass spectrometry” 査読 国際共著 重要な業績

    K. Hiraoka**, S. Akashi, S. Rankin-Turner, S. Ninomiya*

    International Journal of Mass Spectrometry,   493   117135_1 - 7,   2023年11月( ISSN：1387-3806 )

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    担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2023.117135

    DOI： 10.1016/j.ijms.2023.117135

  • “Analysis of human skin sebum and animal meats by heat pulse desorption/mass spectrometry using proximity corona discharge ionization” 査読 国際共著 重要な業績

    K. Hiraoka**, H. Shimada, K. Kinoshita, S. Rankin-Turner, S. Ninomiya*,

    Analytical Biochemistry,   676   115249_1 - 8,   2023年9月( ISSN：0003-2697 )

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    担当区分：最終著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER  

    DOI： 10.1016/j.ab.2023.115249

  • “Site-specific sodiation of peptides studied by pulsed nanoelectrospray ionization” 査読 国際共著 重要な業績

    K. Hiraoka, D. T. Usmanov, S. Ninomiya, S. Rankin-Turner,

    International Journal of Mass Spectrometry,   490   117073_1 - 8,   2023年8月( ISSN：1387-3806 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2023.117073

    DOI： 10.1016/j.ijms.2023.117073

  • "Sputtering produced by vacuum electrospray droplet ions with different sizes and charges" 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    Journal of Vacuum Science and Technology B   41 ( 3 )   032807_1 - 7,   2023年5月( ISSN：2166-2746 )

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1116/6.0002529

    DOI： 10.1116/6.0002529

  • “Electrospray droplet impact/secondary ion mass spectrometry (EDI/SIMS) applied to the analysis of explosives” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, R. Takaishi, S. Ninomiya, S. Rankin-Turner,

    International Journal of Mass Spectrometry,   484   116993_1 - 7,   2023年2月( ISSN：1387-3806 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2022.116993

  • “An Investigation of the Non-selective Etching of Synthetic Polymers by Electrospray Droplet Impact/Secondary Ion Mass Spectrometry (EDI/SIMS)” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, Y. Sakai, H. Kubota, S. Ninomiya, S. Rankin-Turner,

    Mass Spectrometry,   12 ( 1 )   A0114_1 - 6,   2023年1月( ISSN：2186-5116 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.5702/massspectrometry.A0114

  • “Heat Pulse Desorption of Low-Volatility Compounds by a Heated N2 Gas Pulse with Mass Spectrometry” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, H. Shimada, K. Kinoshita, S. Rankin-Turner, K. Hiraoka,

    Journal of the American Society for Mass Spectrometry,   33 ( 11 )   2046 - 2054,   2022年11月( ISSN：1044-0305 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1021/jasms.2c00169

  • “Positive and negative cluster ions of amino acids formed by electrospray droplet impact/secondary ion mass spectrometry (EDI/SIMS)” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, S. Rankin-Turner, S. Ninomiya,

    International Journal of Mass Spectrometry,   480   116895_1 - 8,   2022年10月( ISSN：1387-3806 )

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    担当区分：最終著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2022.116895

  • “自動遠隔採取による質量分析” 招待 査読 重要な業績

    二宮 啓,

    Journal of The Mass Spectrometry Society of Japan,   70 ( 3 )   209 - 210,   2022年9月

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    担当区分：筆頭著者,　最終著者,　責任著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）総説・解説（学術雑誌）  

  • “Comparative study of H3O+(aq) and NH4+(aq) on electrophoresis, protonating ability, and sodiation of proteins” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, S. Ninomiya, S. Rankin-Turner, S. Akashi,

    International Journal of Mass Spectrometry,   471   116728_1 - 8,   2022年1月( ISSN：1387-3806 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2021.116728

  • “Corona Discharge and Field Electron Emission in Ambient Air Using a Sharp Metal Needle: Formation and Reactivity of CO3-• and O2-•” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, S. Rankin-Turner, S. Ninomiya, H. Shimada, K. Kinoshita, S. Yamabe,

    Mass Spectrometry,   10 ( 1 )   A0100_1 - 9,   2021年12月( ISSN：2186-5116 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.5702/massspectrometry.A0100

  • “真空エレクトロスプレー液滴イオンビームの現状とTOF-SIMSでの応用に向けた取組” 招待 査読 重要な業績

    二宮 啓, 川瀬幹大, チェン リーチュイン, 平岡 賢三,

    Journal of Surface Analysis,   27 ( 2 )   104 - 110,   2021年11月

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）総説・解説（学術雑誌）  

    DOI： 10.1384/jsa.27.104

  • “Reaction of CO3-• with trinitrotoluene (TNT) in CO2 plasma: Experimental and theoretical study on the formation of [TNT + O]-• and its fragmentation pathways” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Hiraoka, N. Tsuchida, S. Yamabe,

    International Journal of Mass Spectrometry,   467   116622_1 - 9,   2021年9月( ISSN：1387-3806 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ELSEVIER  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2021.116622

  • “エレクトロスプレーを利用する質量分析技術” 招待 査読 重要な業績

    チェン リーチュイン, 二宮 啓,

    表面技術,   72 ( 3 )   162 - 168,   2021年3月

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    記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）総説・解説（学術雑誌）  

    DOI： 10.4139/sfj.72.162

  • “Miniaturized String Sampling Probe and Electrospray Extraction/Ionization within the Ion Inlet Tube for Mass Spectrometric Endoscopy” 査読 重要な業績

    L.C. Chen, T. Iwano, S. Ninomiya, T. Koike, Y. Tanaka, K. Yoshimura,

    Journal of the American Society for Mass Spectrometry,   32 ( 2 )   606 - 610,   2021年2月( ISSN：1044-0305 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1021/jasms.0c00366

  • “Negative-mode mass spectrometric study on dc corona, ac corona and dielectric barrier discharge ionization in ambient air containing H2O2, 2,4,6-trinitrotoluene (TNT), and 1,3,5-trinitroperhydro-1,3,5-triazine (RDX)” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, S. Iwamoto, D. T. Usmanov, K. Hiraoka, S. Yamabe,

    International Journal of Mass Spectrometry,   459   116440_1 - 10,   2021年1月( ISSN：1387-3806 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2020.116440

  • “Flash desorption of low-volatility compounds deposited on the heated solid substrate (90°C) by dripping liquid methanol” 査読 国際共著 重要な業績

    D.T. Usmanov, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Rapid Communications in Mass Spectrometry,   34 ( 23 )   e8949_1 - 9,   2020年12月( ISSN：0951-4198 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/rcm.8949

  • “Probe Electrospray Ionization (PESI) and Its Modified Versions: Dipping PESI (dPESI), Sheath-Flow PESI (sfPESI) and Adjustable sfPESI (ad-sfPESI)” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, O. Ariyada, D. T. Usmanov, L. C. Chen, S. Ninomiya, K. Yoshimura, S. Takeda, Z. Yu, M. K. Mandal, H. Wada, S. Rankin-Rankin-Turner, H. Nonami,

    Mass Spectrometry,   9 ( 1 )   A0092_1 - 21,   2020年12月( ISSN：2186-5116 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.5702/massspectrometry.A0092

  • “Robotic sheath-flow probe electrospray ionization/mass spectrometry (sfPESI/MS): development of a touch sensor for samples in a multiwell plastic plate” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, O. Ariyada, R. Sekine, S. Ninomiya, D. T. Usmanov, H. Wada, H. Nonami,

    Analytical Methods,   12 ( 22 )   2812 - 2819,   2020年6月( ISSN：1759-9660 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1039/d0ay00778a

  • “A novel contrast of the reactions of 2,4,6-trinitrotoluene (TNT) in atmospheric-pressure O2 and N2 plasma: Experimental and theoretical study” 査読 国際共著 重要な業績

    D. T. Usmanov, S. Ninomiya, K. Hiraoka, S. Yamabe,

    International Journal of Mass Spectrometry,   450   116308_1 - 9,   2020年4月( ISSN：1387-3806 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2020.116308

  • “Pulsed Nano-Electrospray Ionization with a High Voltage (4000 V) Pulse Applied to Solutions in the Range of 200 ns to 1 ms” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya and K. Hiraoka,

    Journal of the American Society for Mass Spectrometry,   31 ( 3 )   693 - 699,   2020年3月( ISSN：1044-0305 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1021/jasms.9b00099

  • “Rapid desorption of low-volatility compounds in liquid droplets accompanied by the flash evaporation of solvent below the Leidenfrost temperature” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, S. Rankin-Turner, K. Hiraoka,

    Rapid Communications in Mass Spectrometry,   34 ( 1 )   e8535_1 - 8,   2020年1月( ISSN：0951-4198 )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/rcm.8535

  • “Point Analysis of Foods by Sheath-Flow Probe Electrospray Ionization/Mass Spectrometry (sfPESI/MS) Coupled with a Touch Sensor” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, S. Rankin-Turner, S. Ninomiya, R. Sekine, H. Wada, M. Matsumura, S. Sanada-Morimura, F. Tanaka, H. Nonami, O. Ariyada,

    Journal of Agricultural and Food Chemistry,   68 ( 1 )   418 - 425   2020年1月( ISSN：0021-8561 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）   出版者・発行元：ACS Publications  

    DOI： 10.1021/acs.jafc.9b06489

  • “Sheath-flow probe electrospray ionization (sfPESI) mass spectrometry for the rapid forensic analysis of human body fluids” 査読 国際共著 重要な業績

    S. Rankin-Turner, S. Ninomiya, J. C. Reynolds, K. Hiraoka,

    Analytical Methods,   11 ( 29 )   3633 - 3640,   2019年8月( ISSN：1759-9660 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1039/c9ay00698b

  • “Real-time analysis of living animals and rapid screening of humanfluid samples using remote sampling electrospray ionization mass spectrometry” 査読 重要な業績

    K. Yoshimura, Y. Yamada, S. Ninomiya, W.Y. Chung, Y.T. Chang, A.R. Dennison, K. Hiraoka, S. Takeda, L.C. Chen,

    Journal of Pharmaceutical and Biomedical Analysis,   172   372 - 378,   2019年8月( ISSN：0731-7085 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.jpba.2019.04.050

  • “Component Profiling in Agricultural Applications Using an Adjustable Acupuncture Needle for Sheath-Flow Probe Electrospray Ionization/Mass Spectrometry” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, S. Rankin-Turner, S. Ninomiya, H. Wada, H. Nakano, M. Matsumura, S. Sanada-Morimura, F. Tanaka, H. Nonami,

    Journal of Agricultural and Food Chemistry,   67 ( 11 )   3275 - 3283,   2019年3月( ISSN：0021-8561 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1021/acs.jafc.8b06424

  • “Probe electrospray ionization of mixture solutions using metal needles with different tip conditions” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, S. Iwamoto, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    Surface and Interface Analysis,   51 ( 1 )   100 - 104,   2019年1月( ISSN：0142-2421 )

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.6558

  • “Electrospray Generated from the Tip-Sealed Fine Glass Capillary Inserted with an Acupuncture Needle Electrode” 査読 重要な業績

    D.T. Usmanov, S. Ninomiya, K. Hiraoka, H. Wada, H. Nakano, M. Matsumura, S. Sanada-Morimura, H. Nonami,

    Journal of The American Society for Mass Spectrometry,   29   2297 - 2304,   2018年12月( ISSN：1044-0305 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1007/s13361-018-2062-3

  • “Hyphenation of high-temperature liquid chromatography with high-pressure electrospray ionization for subcritical water LC-ESI-MS” 査読 重要な業績

    L.C. Chen, T. Naito, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Analyst,   143 ( 22 )   5552 - 5558,   2018年11月( ISSN：0003-2654 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1039/c8an01113c

  • “Dipping probe electrospray ionization/mass spectrometry for direct on-site and low-invasive food analysis” 査読 重要な業績

    D.T. Usmanov, M.K. Mandal, K. Hiraoka, S. Ninomiya, H. Wada, M. Matsumura, S. Sanada-Morimura, H. Nonami, S. Yamabe,

    Food Chemistry,   260   53 - 60,   2018年9月( ISSN：0308-8146 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.foodchem.2018.04.003

  • “Development of a Vacuum Electrospray Droplet Ion Gun for Secondary Ion Mass Spectrometry” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, Y. Sakai, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    Mass Spectrometry,   7   A0069_1 - 9,   2018年7月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.5702/massspectrometry.A0069

  • “真空型エレクトロスプレー液滴イオン銃の開発と飛行時間型二次イオン質量分析への応用” 査読 重要な業績

    二宮 啓, 高木 悠一郎, チェン リーチュイン, 平岡 賢三,

    表面と真空,   61   440 - 445,   2018年7月

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）総説・解説（学術雑誌）  

    DOI： 10.1380/vss.61.440

  • "Sputtering Yields of Polymers Produced by Vacuum Electrospray Water Droplet Ion Beams"

    S. Ninomiya, Y. Miyamoto, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS-20) Abstracts,   26 - 27,   2018年6月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：（MISC）研究発表要旨（国際会議）  

  • “水溶液の真空エレクトロスプレーにより発生する帯電液滴の質量および価数” 査読 重要な業績

    二宮 啓, 渡邊 諒, チェン リーチュイン, 平岡 賢三,

    表面と真空,   61   286 - 291,   2018年5月

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1380/vss.61.286

  • “Relative secondary ion yields produced by vacuum-type electrospray droplet ion beams” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    Journal of Vacuum Science and Technology B,   36   03F134_1 - 8,   2018年5月( ISSN：1071-1023 )

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1116/1.5019182

  • “Electrospray Ionization Source with a Rear Extractor” 査読 重要な業績

    L.C. Chen, S. Tsutsui, T. Naito, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Journal of Mass Spectrometry,   53   400 - 407,   2018年5月( ISSN：1076-5174 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/jms.4072

  • “Remote sampling mass spectrometry for dry samples: Sheath-flow probe electrospray ionization (PESI) using a gel loading tip inserted with an acupuncture needle” 査読 重要な業績

    D. T. Usmanov, K. B. Ashurov, S. Ninomiya, K. Hiraoka, H. Wada, H. Nakano, M. Matsumura, S. Sanada-Morimura, H. Nonami,

    Rapid Communications in Mass Spectrometry,   32   407 - 413,   2018年3月( ISSN：0951-4198 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/rcm.8045

  • “Flash desorption mass spectrometry of solid materials using a pre-heated knife-edge filament” 重要な業績

    S. Ninomiya, D. T. Usmanov, K. Hiraoka,

    Proceedings of 11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '17 (ALC ’17),   176 - 179,   2017年12月

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

  • “Probe electrospray ionization of mixture solutions using metal needles with different tip conditions” 重要な業績

    S. Ninomiya, S. Iwamoto, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    Proceedings of 11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '17 (ALC ’17),   171 - 175,   2017年12月

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

  • “Pulsed probe electrospray and nano-electrospray: the temporal profiles of ion formation from the Taylor cone” 査読 重要な業績

    D. T. Usmanov, K. Hiraoka, S. Ninomiya, L.C. Chen, H. Wada, M. Matsumura, S. Sanada-Morimura, K. Nakata, H. Nonami,

    Analytical Methods,   9   4958 - 4963,   2017年9月( ISSN：1759-9660 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1039/C7AY01275F

  • “Towards Practical Endoscopic Mass Spectrometry” 査読 重要な業績

    L.C. Chen, K. Yoshimura, S. Ninomiya, S. Takeda, K. Hiraoka,

    Mass Spectrometry,   6 ( 3 )   S0070_1 - 8,   2017年8月

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    記述言語：英語   掲載種別：（MISC）総説・解説（学術雑誌）  

    DOI： 10.5702/massspectrometry.S0070

  • “真空エレクトロスプレーを用いるイオン銃の開発” 招待 査読 重要な業績

    二宮 啓, 境 悠治, チェン リーチュイン, 平岡 賢三,

    真空,   60 ( 8 )   321 - 327,   2017年8月

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）総説・解説（学術雑誌）  

  • “In vivo endoscopic mass spectrometry using a moving string sampling probe” 査読

    L.C Chen, T. Naito, S. Tsutsui, Y. Yamada, S. Ninomiya, K. Yoshimura, S. Takeda, K. Hiraoka,

    Analyst,   142   2735 - 2740,   2017年8月( ISSN：0003-2654 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1039/C7AN00650K

  • “Analysis of fluorene and 9,9-dialkylfluorenes by electrospray droplet impact (EDI)/SIMS” 査読 重要な業績

    R. Takaishi, D. T. Usmanov, S. Ninomiya, Y. Sakai, K. Hiraoka, H. Wada, M. Matsumura, S. Sanada-Morimura, H. Nonami, S. Yamabe,

    International Journal of Mass Spectrometry,   419   29 - 36,   2017年8月( ISSN：1387-3806 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2017.05.006

  • “Development of Remote Sampling ESI Mass Spectrometry for the Rapid and Automatic Analysis of Multiple Samples” 査読

    Y. Yamada, S. Ninomiya, K. Hiraoka, L.C. Chen,

    Mass Spectrometry,   5   S0068_1 - 6,   2017年3月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.5702/massspectrometry.S0068

  • “Desorption in mass spectrometry” 査読

    D.T. Usmanov, S. Ninomiya, L.C. Chen, S. Saha, M.K. Mandal, Y. Sakai, R. Takaishi, A. Habib, K. Hiraoka, K. Yoshimura, S. Takeda, H. Wada, H. Nonami,

    Mass Spectrometry,   6   S0059_1 - 16,   2017年2月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.5702/massspectrometry.S0059

  • “質量分析のための粒子衝撃型脱離イオン化法” 招待 査読 重要な業績

    二宮 啓,

    Journal of The Mass Spectrometry Society of Japan,   65   17 - 20,   2017年2月

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    担当区分：筆頭著者,　最終著者,　責任著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）総説・解説（学術雑誌）  

  • “Sputtering properties for polyimide by vacuum electrospray droplet impact (V-EDI) using size-selected cluster ions” 査読 重要な業績

    Y. Sakai, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Surface and Interface Analysis,   49   127 - 132,   2017年2月( ISSN：0142-2421 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.6070

  • “Secondary Ion Mass Spectrometry Analysis of Renal Cell Carcinoma with Electrospray Droplet Ion Beams” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Yoshimura, L.C. Chen, S. Takeda, K. Hiraoka,

    Mass Spectrometry,   6   A0053_1 - 6,   2017年1月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.5702/massspectrometry.A0053

  • “Secondary ion yields for vacuum-type electrospray droplet beams measured with a triple focus time-of-flight analyzer” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, Y. Sakai, R. Watanabe, M. Sogou, T. Miyayama, D. Sakai, K. Watanabe, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    Rapid Communications in Mass Spectrometry,   30   2279 - 2284,   2016年10月( ISSN：0951-4198 )

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/rcm.7703

  • “Super-atmospheric pressure ionization mass spectrometry and its application to ultrafast online protein digestion analysis” 査読 重要な業績

    L.C. Chen, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Journal of Mass Spectrometry,   51   396 - 411,   2016年6月( ISSN：1076-5174 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/jms.3779

  • “Secondary ions produced by electrospray droplet impact with m/z selection from 10^3 to 10^6” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, Y. Sakai, K. Hiraoka,

    Journal of Vacuum Science and Technology B,   34   03H116_1 - 6,   2016年5月( ISSN：1071-1023 )

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1116/1.4943024

  • “クラスターイオンの使い道(SIMS＆XPS)” 招待 査読 重要な業績

    二宮 啓,

    表面科学,   37 ( 4 )   178 - 183,   2016年4月

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    担当区分：筆頭著者,　最終著者,　責任著者   記述言語：日本語   掲載種別：（MISC）総説・解説（学術雑誌）  

  • “Rapid Online Non-Enzymatic Protein Digestion Analysis with High Pressure Superheated ESI-MS” 査読

    L.C. Chen, M. Kinoshita, M. Noda, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Journal of The American Society for Mass Spectrometry,   26   1085 - 1091,   2015年7月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1007/s13361-015-1111-4

  • “Probe electrospray ionization (PESI) mass spectrometry with discontinuous atmospheric pressure interface (DAPI)” 査読

    D.T. Usmanov, S. Saha, L.C. Chen, S. Ninomiya, M.K. Mandal, and K. Hiraoka,

    European Journal of Mass Spectrometry,   21   327 - 334,   2015年2月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1255/ejms.1309

  • “XPS depth analysis of metal/polymer multilayer by vacuum electrospray droplet impact” 査読 重要な業績

    Y. Sakai, R. Takaishi, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Surface and Interface Analysis,   47   77 - 81,   2015年1月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.5669

  • “Piezoelectric inkjet assisted rapid electrospray ionization mass spectrometric analysis of metabolites in plant single cells via a direct sampling probe” 査読

    Z. Yu, L.C. Chen, S. Ninomiya, M.K. Mandal, K. Hiraoka, H. Nonami,

    Analyst,   139   5734 - 5739,   2014年11月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1039/c4an01068j

  • “Evaluation of a diode laser assisted vacuum-type charged droplet beam source” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, Y. Sakai, K. Hiraoka,

    Surface and Interface Analysis,   46 ( [S1] )   364 - 367,   2014年11月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.5532

  • “Desorption Mass Spectrometry for Nonvolatile Compounds Using an Ultrasonic Cutter” 査読 重要な業績

    A. Habib, S. Ninomiya, L.C. Chen, D.T. Usmanov, K. Hiraoka,

    Journal of The American Society for Mass Spectrometry,   25   1177 - 1180,   2014年7月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1007/s13361-014-0899-7

  • “Characteristics of Charged Droplet Beams Produced from Vacuum Electrospray” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, Y. Sakai, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    Journal of Surface Analysis,   20 ( 3 )   171 - 176,   2014年3月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Alternating current corona discharge/atmospheric pressure chemical ionization for mass spectrometry” 査読 重要な業績

    A. Habib, D. Usmanov, S. Ninomiya, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    Rapid Communications in Mass Spectrometry,   27   2760 - 2766,   2013年12月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/rcm.6744

  • “Flash Desorption/Mass Spectrometry for the Analysis of Less- and Nonvolatile Samples Using a Linearly Driven Heated Metal Filament” 査読 重要な業績

    D. Usmanov, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Journal of The American Society for Mass Spectrometry,   24   1727 - 1735,   2013年8月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1007/s13361-013-0711-0

  • “Development of sheath-flow probe electrospray ionization (SF-PESI)” 査読 重要な業績

    Md.O. Rahman, M.K. Mandal, Y. Shida, S. Ninomiya, L.C. Chen, H. Nonami, K. Hiraoka,

    Journal of Mass Spectrometry,   48   823 - 829,   2013年7月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： DOI: 10.1002/jms.322

  • “Threshold behaviour of ion formation for noble metals (Au, Ag, Cu, Pt) irradiated by 4 ns 532 nm laser” 査読 重要な業績

    D. Usmanov, L.C. Chen, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    International Journal of Mass Spectrometry,   341-342   45 - 51,   2013年5月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.ijms.2013.02.009

  • “Trace Level Detection of Explosives in Solution Using Leidenfrost Phenomenon Assisted Thermal Desorption Ambient Mass Spectrometry” 査読

    S. Saha, M.K. Mandal, L.C. Chen, S. Ninomiya, Y. Shida, Kenzo Hiraoka,

    Mass Spectrometry,   2   S0008_1 - 5,   2013年3月

    　詳細を見る

    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.5702/massspectrometry.S0008

  • “Development of a high-performance electrospray droplet beam source”, 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, Y. Sakai, H. Suzuki, K. Hiraoka,

    Surface and Interface Analysis,   45   126 - 130,   2013年1月

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： DOI 10.1002/sia.4907

  • “Solid probe assisted nanoelectrospray ionization mass spectrometry for biological tissue diagnostics” 査読

    M.K. Mandal, K. Yoshimura, S. Saha, S. Ninomiya, Md.O. Rahman, Z. Yu, L.C. Chen, Y. Shida, S. Takeda, H. Nonami, K. Hiraoka,

    Analyst,   137   4658 - 4661,   2012年10月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1039/c2an36006c

  • “XPS depth analysis of CuO by electrospray droplet impact” 査読 重要な業績

    Y. Sakai, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Surface and Interface Analysis,   44   938 - 941,   2012年8月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.4843

  • “Vacuum electrospray of volatile liquids assisted by infrared laser irradiation” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, L. C. Chen, H. Suzuki, Y. Sakai, K. Hiraoka,

    Rapid Communications in Mass Spectrometry,   26   863 - 869,   2012年4月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/rcm.6181

  • “X-ray photoelectron spectroscopy depth analysis of metal oxides by electrospray droplet impact” 査読 重要な業績

    Y. Sakai, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    Surface and Interface Analysis,   43   1605 - 1609,   2011年12月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.4843

  • "Low Damage Milling of an Amino Acid thin film with Cluster Ion Beam" 査読

    M. Hada, S. Ibuki, Y. Hontani, Y. Yamamoto, K. Ichiki, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Journal of Applied Physics,   110   09470_1 - 5,   2011年11月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1063/1.3658220

  • “Highly sensitive molecular detection with swift heavy ions” 査読

    Y. Wakamatsu, H. Yamada, S. Ninomiya, B.N. Jones, T. Seki, T. Aoki, R. Webb, J. Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   269   2251 - 2253,   2011年10月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2011.02.069

  • “The effects of cluster size on sputtering and surface smoothing of PMMA with gas cluster ion beams” 査読

    K. Ichiki, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Transactions of the Materials Research Society of Japan,   36   309 - 312,   2011年9月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Development of double cylindrical dielectric barrier discharge ion source” 査読 重要な業績

    K. Hiraoka, S. Ninomiya, L.C. Chen, T. Iwama, M.K. Mandal, H. Suzuki, O. Ariyada, H. Furuya, K. Takekawa,

    Analyst,   136   1210 - 1215,   2011年3月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1039/c0an00621a

  • “Using ellipsometry for the evaluation of surface damage and sputtering yield in organic films with irradiation of argon cluster ion beams” 査読

    M. Hada, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Surface and Interface Analysis,   43   84 - 87,   2011年1月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.3452

  • “The effect of incident energy on molecular depth profiling of polymers with large Ar cluster ion beams” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Ichiki, H. Yamada, Y. Nakata, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Surface and Interface Analysis,   43   221 - 224,   2011年1月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.3656

  • “Analysis of organic semiconductor multilayers with Ar cluster secondary ion mass spectrometry” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Ichiki, H. Yamada, Y. Nakata, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Surface and Interface Analysis,   43   95 - 98,   2011年1月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.3587

  • “Surface morphology of PMMA surfaces bombarded with size-selected gas cluster ion beams” 査読 重要な業績

    K. Ichiki, S. Ninomiya, Y. Nakata, H. Yamada, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Surface and Interface Analysis,   43   120 - 122,   2011年1月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.3444

  • “MeV-energy probe SIMS imaging of major components in washed and fractured animal cells” 査読

    H. Yamada, Y. Nakata, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Tamura, J. Matsuo,

    Surface and Interface Analysis,   43   363 - 366,   2011年1月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.3408

  • “Development of a Remote-from-Plasma Dielectric Barrier Discharge Ion Source and Its Application to Explosives” 査読

    K. Hiraoka, L.C. Chen, T. Iwama, M.K. Mandal, S. Ninomiya, H. Suzuki, O. Ariyada, H. Furuya, K. Takekawa,

    Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan,   58   215 - 220,   2010年12月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Anisotropic Etching Using Reactive Cluster Beams” 査読

    K. Koike, Y. Yoshino, T. Senoo, T. Seki, S. Ninomiya, T. Aoki, J. Matsuo,

    Applied Physics Express,   3   126501,   2010年12月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Processing Techniques of Biomaterials: Using Gas Cluster Ion Beam for Imaging Mass Spectrometry” 査読

    H. Yamada, K. Ichiki, Y. Nakata, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Transactions of the Materials Research Society of Japan,   35   793 - 796,   2010年12月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “SIMS Depth Profiling of Organic Materials with Ar Cluster Ion Beam” 査読

    S. Ninomiya, K. Ichiki, H. Yamada, Y. Nakata, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Transactions of the Materials Research Society of Japan,   35   785 - 788,   2010年12月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Sputtering Properties of Si by Size-Selected Ar Gas Cluster Ion Beam” 査読

    K. Ichiki, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Transactions of the Materials Research Society of Japan,   35   789 - 792,   2010年12月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “SIMS with highly excited primary beams for molecular depth profiling and imaging of organic and biological materials” 査読

    J. Matsuo, S. Ninomiya, H. Yamada, K. Ichiki, Y. Wakamatsu, M. Hada, T. Seki, T. Aoki,

    Surface and Interface Analysis,   42   1612 - 1615,   2010年10月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/sia.3585

  • “SIMS with highly excited primary beams for molecular depth profiling and imaging of organic and biological materials” 査読

    H. Yamada, K. Ichiki, Y. Nakata, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   268   1736 - 1740,   2010年6月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2010.02.038

  • “Evaluation of Damage Layer in an Organic Film with Irradiation of Energetic Ion Beams” 査読

    M. Hada, S. Ibuki, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Japanese Journal of Applied Physics,   49 ( 3R )   036503_1 - 5,   2010年3月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1143/JJAP.49.036503

  • “Organic Depth Profiling of a Nanostructured Delta Layer Reference Material Using Large Argon Cluster Ions” 査読 重要な業績

    J.L.S. Lee, S. Ninomiya, J. Matsuo, I.S. Gilmore, M.P. Seah, A.G. Shard,

    Analytical Chemistry,   82   98 - 105,   2010年1月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1021/ac901045q

  • “The emission process of secondary ions from solids bombarded with large gas cluster ions” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Ichiki, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   267   2601 - 2604,   2009年8月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2009.05.019

  • “A Processing Technique of Cell Surface Using Gas Cluster Ions for Imaging Mass Spectrometry” 査読 重要な業績

    H. Yamada, K. Ichiki, Y. Nakata, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, Jiro Matsuo,

    Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan,   57 ( 3 )   117 - 121,   2009年6月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Precise and fast secondary ion mass spectrometry depth profiling of polymer materials with large Ar cluster ion beams” 査読

    S. Ninomiya, K. Ichiki, H. Yamada, Y. Nakata, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Rapid Communications in Mass Spectrometry,   23   1601 - 1606,   2009年6月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/rcm.4046

  • “Imaging Mass Spectrometry with Nuclear Microprobes for Biological Applications” 査読 重要な業績

    Y. Nakata, H. Yamada, Y. Honda, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   267   2144 - 2148,   2009年6月( ISSN：0168-583X )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2009.03.094

  • “Study of crater formation and sputtering process with large gas cluster impact by molecular dynamics simulations” 査読 重要な業績

    T. Aoki, T. Seki, S. Ninomiya, K. Ichiki, Jiro Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   267 ( 8-9 )   1424 - 1427,   2009年5月( ISSN：0168-583X )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2009.01.162

  • “Sputtering yield measurements with size-selected gas cluster ion beams” 査読 重要な業績

    K. Ichiki, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, Jiro Matsuo,

    Material Reserach Society Symposium Proceedings,   1181   - DD13-25,   2009年4月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

  • “Low Damage Etching of Polymer Materials for Depth Profile Analysis Using Large Ar Cluster Ion Beam” 査読

    S. Ninomiya, K. Ichiki, H. Yamada, Y. Nakata, Y. Honda, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Journal of Surface Analysis,   15   275 - 278,   2009年3月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Matrix-free high-resolution imaging mass spectrometry with high-energy ion projectiles” 査読 重要な業績

    Y. Nakata, Y. Honda, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, Jiro Matsuo,

    Journal of Mass Spectrometry   44 ( 1 )   128 - 136,   2009年1月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1002/jms.1482

  • “Yield enhancement of molecular ions with MeV ion-induced electronic excitation” 査読 重要な業績

    Y. Nakata, Y. Honda, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Applied Surface Science,   255 ( 4 )   1591 - 1594,   2008年12月( ISSN：0169-4332 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.apsusc.2008.05.108

  • “A fragment-free ionization technique for organic mass spectrometry with large Ar cluster ions” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, Y. Nakata, Y. Honda, K. Ichiki, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Applied Surface Science,   255   1588 - 1590,   2008年12月( ISSN：0169-4332 )

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.apsusc.2008.05.004

  • “Secondary ion emission from Si bombarded with large Ar cluster ions under UHV conditions” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Ichiki, Y. Nakata, Y. Honda, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Applied Surface Science,   255 ( 4 )   880 - 882,   2008年12月( ISSN：0169-4332 )

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.apsusc.2008.05.063

  • “What size of cluster is most appropriate for SIMS?” 査読 重要な業績

    J. Matsuo, S. Ninomiya, Y. Nakata, Y. Honda, K. Ichiki, T. Seki, T. Aoki,

    Applied Surface Science,   255 ( 4 )   1235 - 1238,   2008年12月( ISSN：0169-4332 )

    　詳細を見る

    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.apsusc.2008.05.057

  • “MD simulation study of the sputtering process by high-energy gas cluster impact” 査読 重要な業績

    T. Aoki, T. Seki, S. Ninomiya, J. Matsuo,

    Applied Surface Science,   255 ( 4 )   944 - 947,   2008年12月( ISSN：0169-4332 )

    　詳細を見る

    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.apsusc.2008.05.008

  • “High sputtering yields of organic compounds by large gas cluster ions” 査読 重要な業績

    K. Ichiki, S. Ninomiya, Y. Nakata, Y. Honda, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Applied Surface Science,   255 ( 4 )   1148 - 1150,   2008年12月( ISSN：0169-4332 )

    　詳細を見る

    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.apsusc.2008.05.032

  • “Quantitative SIMS Analysis of Biological Mixtures with Fast Heavy Ion Irradiation” 査読 重要な業績

    Y. Honda, Y. Nakata, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Transactions of the Materials Research Society of Japan,   33 ( 4 )   1039 - 1041,   2008年12月

    　詳細を見る

    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Low Damage Etching and SIMS Depth Profiling with Large Ar Cluster Ions” 査読

    S. Ninomiya, K. Ichiki, H. Yamada, Y. Nakata, Y. Honda, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Transactions of the Materials Research Society of Japan,   33   1043 - 1046,   2008年12月

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    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Ion-Induced Emission of Amino Acid Molecular Ions from Thin Films” 査読

    Y. Nakata, Y. Honda, S. Ninomiya, J. Matsuo,

    Transactions of the Materials Research Society of Japan,   32 ( 4 )   899 - 901,   2007年12月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “The Effect of Incident Ion Size on Secondary Ion Yields Produced from Si” 査読

    S. Ninomiya, K. Ichiki, Y. Nakata, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Transactions of the Materials Research Society of Japan,   32 ( 4 )   895 - 898,   2007年12月

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Molecular dynamics study of monomer and dimer emission processes with high energy gas cluster ion impact” 査読 重要な業績

    T. Aoki, T. Seki, S. Ninomiya, J. Matsuo,

    Surface & Coatings Technology,   201 ( 19-20 )   8427 - 8430,   2007年8月( ISSN：0257-8972 )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.surfcoat.2006.09.325

  • “Low damage smoothing of magnetic material films using　a gas cluster ion beam” 査読 重要な業績

    S. Kakuta, S. Sasaki, T. Hirano, K. Ueda, T. Seki, S. Ninomiya, M. Hada, J. Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   257 ( 1-2 )   677 - 682,   2007年4月( ISSN：0168-583X )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2007.01.110

  • “Size effect in cluster collision on solid surfaces” 査読 重要な業績

    J. Matsuo, S. Ninomiya, Y. Nakata, K. Ichiki, T. Aoki, T. Seki,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   257 ( 1-2 )   627 - 631,   2007年4月( ISSN：0168-583X )

    　詳細を見る

    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： doi:10.1016/j.nimb.2007.01.164

  • “Secondary ion emission from bio-molecular thin films under ion bombardment” 査読 重要な業績

    Y. Nakata, S. Ninomiya, Jiro Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   256 ( 1 )   489 - 492,   2007年3月( ISSN：0168-583X )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： doi:10.1016/j.nimb.2006.12.073

  • “Measurements of secondary ions emitted from organic compounds bombarded with large gas cluster ions” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, Y. Nakata, K. Ichiki, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   256 ( 1 )   493 - 496,   2007年3月( ISSN：0168-583X )

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2006.12.047

  • “The effect of incident cluster ion energy and size on secondary ion yields emitted from Si” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Ichiki, Y. Nakata, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   256 ( 1 )   528 - 531,   2007年3月( ISSN：0168-583X )

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2006.12.074

  • “Surface oxidation of Si assisted by irradiation with large gas cluster ion beam in an oxygen atmosphere” 査読 重要な業績

    K. Ichiki, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   256 ( 1 )   350 - 353,   2007年3月( ISSN：0168-583X )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： doi:10.1016/j.nimb.2006.12.026

  • “Secondary ion measurements for oxygen cluster ion SIMS” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, T. Aoki, T. Seki, J. Matsuo,

    Applied Surface Science,   252 ( 19 )   7290 - 7292,   2006年7月( ISSN：0169-4332 )

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.apsusc.2006.02.138

  • “High-intensity Si cluster ion emission from a silicon target bombarded with large Ar cluster ions” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, T. Aoki, T. Seki, J. Matsuo,

    Applied Surface Science,   252 ( 19 )   6550 - 6553,   2006年7月( ISSN：0169-4332 )

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.apsusc.2006.02.100

  • “A Comparison of Ions with Neutrals Emitted from Semiconductors Bombarded by MeV Si Ions” 査読

    Y. Nakata, S. Ninomiya, T. Aoki, H. Tsuchida, J. Matsuo, A. Itoh,

    Transactions of the Materials Research Society of Japan,   30 ( 3 )   797 - 800,   2005年6月

    　詳細を見る

    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

  • “Secondary neutral and ionized particle measurements under MeV-energy ion bombardment” 査読 重要な業績

    Y. Nakata, S. Ninomiya, C. Imada, M. Nagai, T. Aoki, J. Matsuo, N. Imanishi,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   230   489 - 494,   2005年4月( ISSN：0168-583X )

    　詳細を見る

    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2004.12.089

  • “Total sputtering yields of solids under MeV-energy Si ion bombardment” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, C. Imada, M. Nagai, Y. Nakata, T. Aoki, J. Matsuo, N. Imanishi,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   230   483 - 488,   2005年4月( ISSN：0168-583X )

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者,　責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.nimb.2004.12.088

  • “Secondary cluster-ion emission from III-V semiconductive materials under MeV-energy heavy-ion bombardment” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, C. Imada, M. Nagai, Y. Nakata, N. Imanishi,

    Physical Review A,   70 ( 4 )   042903_1 - 8,   2004年10月( ISSN：2469-9926 )

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1103/PhysRevA.70.042903

  • “Nuclear and Electronic Sputtering Induced by High Energy Heavy Ions” 査読

    N. Imanishi and S. Ninomiya,

    Journal of Nuclear and Radiochemical Sciences,   5 ( 1 )   R9 - R17,   2004年6月

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.14494/jnrs2000.5.R9

  • “Material dependence of electronic sputtering induced by MeV-energy heavy ions” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya and N. Imanishi,

    Vacuum,   73 ( 1 )   79 - 87,   2004年3月( ISSN：0042-207X )

    　詳細を見る

    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/j.vacuum.2003.12.026

  • “Cluster-ion emission from semiconductive chemical compounds under MeV-energy heavy ion bombardment” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, S. Gomi, C. Imada, M. Nagai, M. Imai, N. Imanishi,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   209   233 - 238,   2003年8月( ISSN：0168-583X )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/S0168-583X(02)02044-X

  • “Material-dependent emission mechanism of secondary atomic ions from solids under MeV-energy heavy ion bombardment” 査読 重要な業績

    S. Ninomiya, N. Imanishi, J. Xue, S. Gomi, M. Imai,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   193 ( 1-4 )   745 - 750,   2002年6月( ISSN：0168-583X )

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/S0168-583X(02)00897-2

  • “Dependence of Heavy Ion Induced Secondary Ion Emission on Electric Conductivity in MeV Energy Range”

    S. Ninomiya, S. Gomi, J. Xue, M. Imai, N. Imanishi,

    Proceedings of 16th International Conference on Application of Accelerators in Research and Industry,   543 - 547,   2001年12月

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    担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）  

  • “Emission energy distribution of secondary ions produced through the electronic sputtering process under heavy ion bombardment” 査読

    N. Imanishi, H. Ohta, S. Ninomiya, A. Itoh,

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,   164-165   803 - 808,   2000年4月( ISSN：0168-583X )

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    記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

    DOI： 10.1016/S0168-583X(99)01077-0

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講演・口頭発表等

  • 【依頼講演】“真空エレクトロスプレー液滴イオンビームの発生と表面分析での利用” 招待 重要な業績

    二宮啓

    SIMS研究会16  2023年8月 

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    開催年月日： 2023年8月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：成蹊大学  

  • 【Invited】“Sputtering of polymers produced by vacuum electrospray droplet ions” (O1-3) 招待 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, K. Hiraoka

    SISS-22 The International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions,  2023年6月  Satoka Aoyagi

    　詳細を見る

    開催年月日： 2023年6月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：Kanazawa Institute of Technology, Ishikawa, Japan   国名：日本国  

  • 【共同研究者によるポスター発表】"近接コロナ放電イオン源による皮脂の分析: Matrix-Effect Free APCI" (3P-14) 国際共著 重要な業績

    島田治男, 木下一真, 二宮啓, 平岡賢三, Stephanie Rankin-Turner,

    第71回質量分析総合討論会,  2023年5月 

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    開催年月日： 2023年5月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：大阪市  

  • 【学生によるポスター発表】"遠隔自動採取連続質量分析システムの性能評価と市販飲料分析への応用" (3P-07) 重要な業績

    用下遥也, 清水拓海, 二宮啓, 平岡賢三,

    第71回質量分析総合討論会,  2023年5月 

    　詳細を見る

    開催年月日： 2023年5月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：大阪市  

  • 【学生によるポスター発表】"特定気体のコロナ放電により生成されるイオンと試料分子の反応に関する研究" (3P-09) 重要な業績

    山澤雄太, 二宮啓, 平岡賢三,

    第71回質量分析総合討論会,  2023年5月 

    　詳細を見る

    開催年月日： 2023年5月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：大阪市  

  • 【ポスター発表】"帯電液滴衝撃／二次イオン質量分析法による合成高分子／シリコン積層試料の分析" (2P-56) 国際共著 重要な業績

    二宮啓, 境悠治, 窪田展幸, Stephanie Rankin-Turner, 平岡賢三,

    第71回質量分析総合討論会,  2023年5月 

    　詳細を見る

    開催年月日： 2023年5月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：大阪市  

  • 【学生によるポスター発表】"ヒートパルス脱離と近接コロナ放電イオン源による各世代ヒト皮脂の分析" (2P-52) 国際共著 重要な業績

    大澤諒也, 二宮啓, 平岡賢三, 島田治男, 木下一真, Stephanie Rankin-Turner,

    第71回質量分析総合討論会,  2023年5月 

    　詳細を見る

    開催年月日： 2023年5月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：大阪市  

  • 【ポスター発表】"ペプチドのNa+付加イオン：どの酸性サイトが脱プロトン化するか？" (1P-44) 国際共著 重要な業績

    二宮啓, D. T. Usmanov, S. Rankin-Turner, 明石知子, 平岡賢三,

    第71回質量分析総合討論会,  2023年5月 

    　詳細を見る

    開催年月日： 2023年5月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：大阪市  

  • 【研修セミナー講師】有機SIMS　～材料の最表面分析への歩み～ 招待 重要な業績

    二宮　啓

    マイクロビームアナリシス技術部会 2023年度研修セミナー「高感度質量分析の多様な利用法」  2023年4月  日本表面真空学会

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    開催年月日： 2023年4月

    記述言語：日本語   会議種別：公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等  

    開催地：HORIBA東京セールスオフィス   国名：日本国  

  • 【Oral presentation】 “Fundamental properties of vacuum electrospray droplet ion beams produced by capillaries with different inner diameters” (19a-3-4) 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, S. Tsuneki, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’22 (ALC '22),  2022年10月  Tetsuya Hasegawa & Retsu Oiwa

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    開催年月日： 2022年10月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Bankoku Shinryokan, Okinawa, Japan  

  • 【Poster presentation by a student】“Mass spectrometry of peptide mixture solutions using a pulsed nano-electrospray ionization” (18P-11) 国際会議 重要な業績

    Y. Tanaka, S. Ninomiya, K. Hiraoka,

    14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’22 (ALC '22),  2022年10月  Tetsuya Hasegawa & Retsu Oiwa

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    開催年月日： 2022年10月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：Bankoku Shinryokan, Okinawa, Japan  

  • 【Poster presentation】“Mass spectrometry using desorption by flash injection of heated gas up to 400°C” (18P-12) 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, R. Oosawa, H. Shimada, K. Kinoshita, K. Hiraoka,

    14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’22 (ALC '22),  2022年10月  Tetsuya Hasegawa & Retsu Oiwa

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    開催年月日： 2022年10月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：Bankoku Shinryokan, Okinawa, Japan  

  • 【学生による口頭発表】“真空エレクトロスプレー液滴イオンビームによるスパッタ体積とスプレー電圧の関係” (22p-V205-13) 重要な業績

    常木誠之助, 二宮啓, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会,  2022年9月 

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    開催年月日： 2022年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • 【Oral presentation】 “Properties of vacuum electrospray droplet ion beams produced by capillaries with different inner diameters” (RA-WeM2-3) 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, S. Tsuneki, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    23rd International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS 23),  2022年9月  Anna Belu

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    開催年月日： 2022年9月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Hyatt Regency Minneapolis, Minneapolis, MN, USA  

  • 【Invited】“Heat pulse desorption mass spectrometry” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, R. Oosawa, H. Shimada, K. Kinoshita, K. Hiraoka,

    Workshop on Ion Chemistry and Plasmas (JSPS Japan-Slovakia Joint Workshop),  2022年8月  Prof. Štefan Matejčík

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    開催年月日： 2022年8月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：Hotel Sorea Regia, Bratislava, Slovakia  

  • 【Oral presentation by a student】 “A robotic instrument for automated sampling and consecutive mass spectrometry” 国際会議 重要な業績

    T. Shimizu, S. Ninomiya, K. Yoshimura, T. Iwano, K. Hiraoka,

    Workshop on Ion Chemistry and Plasmas (JSPS Japan-Slovakia Joint Workshop),  2022年8月  Prof. Štefan Matejčík

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    開催年月日： 2022年8月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Hotel Sorea Regia, Bratislava, Slovakia  

  • 【ポスター発表】"帯電水滴衝撃イオン化法と熱脱離法によるアミノ酸クラスターイオンの測定" (3P-32) 重要な業績

    二宮啓, 平岡賢三,

    第70回質量分析総合討論会,  2022年6月  日本質量分析学会

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    開催年月日： 2022年6月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：福岡市  

  • 【ポスター発表】"瞬間加熱ガス噴射による脱離を利用した質量分析" (3P-31) 重要な業績

    二宮啓, 大澤諒也, 島田治男, 木下一真, 平岡賢三,

    第70回質量分析総合討論会,  2022年6月 

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    開催年月日： 2022年6月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：福岡市  

  • 【ポスター発表】"たんぱく質分子のエレクトロスプレーイオン化：H3O+(aq)およびNH4+(aq)の電気伝導度、proton化能、およびNa+付加体からの比較検討" (2P-47) 重要な業績

    二宮啓, 明石知子, Stephanie Rankin-Turner, 平岡賢三,

    第70回質量分析総合討論会,  2022年6月 

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    開催年月日： 2022年6月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：福岡市  

  • 【学生による口頭発表】"全自動連続質量分析のためのsfPESIプローブに関する研究" 1B-O1-1730 (1P-40) 重要な業績

    清水拓海, 二宮啓, 平岡賢三,

    第70回質量分析総合討論会,  2022年6月 

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    開催年月日： 2022年6月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：福岡市  

  • 【学生によるポスター発表】"パルスナノエレクトロスプレーイオン化によるペプチド混合試料の質量分析" (1P-17) 重要な業績

    田中祐平, 二宮啓, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    第70回質量分析総合討論会,  2022年6月 

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    開催年月日： 2022年6月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：福岡市  

  • "金属針を利用する負イオン化質量分析とそのイオン化過程" , 招待 重要な業績

    二宮啓,

    第79回イオン反応研究会 オンライン講演会,  2022年3月 

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    開催年月日： 2022年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

  • “真空エレクトロスプレー液滴イオン衝撃による衝突痕とスパッタ体積” 重要な業績

    川瀬幹大, 常木誠之助, チェンリーチュイン, 平岡賢三, 二宮啓,

    2022年 第69回 応用物理学会 春季学術講演会,  2022年3月 

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    開催年月日： 2022年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • "真空エレクトロスプレー液滴イオン衝撃でのスパッタ特性から見えてくる液滴イオンの様相" , 招待 重要な業績

    二宮 啓, 川瀬 幹大, 常木 誠之助, チェン リーチュイン, 平岡 賢三,

    表面分析研究会 第57回研究会,  2022年3月 

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    開催年月日： 2022年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

  • "爆発物の負イオン化質量分析とそのイオン化過程" , 招待 重要な業績

    二宮啓,

    日本学術振興会 R026 先端計測技術の将来設計委員会 第8回研究会,  2022年3月 

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    開催年月日： 2022年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

  • 【学生によるポスター発表】"The Effect of Capillary Inner Diameter on Polystyrene Sputtering Produced by Vacuum Electrospray Droplet Ion Beams" P-6, 国際会議 重要な業績

    M. Kawase, S. Ninomiya, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    21st Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS-21),  2021年12月 

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    開催年月日： 2021年12月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • 【学生によるポスター発表】"Effects of organic solvents on electrospray ionization mass spectrometry for mixture samples" 20PH03, 国際会議 重要な業績

    Tomu Sagami, Kenzo Hiraoka , Satoshi Ninomiya,

    13th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices'21,  2021年10月 

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    開催年月日： 2021年10月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

  • "ロボティックイオン源装置による自動遠隔採取質量分析" , 招待 重要な業績

    二宮啓,

    マイクロビームアナリシス技術部会 第5回研究会,  2021年9月 

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    開催年月日： 2021年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

  • "全自動質量分析のためのロボティックイオン源装置の開発" F1105, 重要な業績

    二宮啓, 清水拓海, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    日本分析化学会第70年会,  2021年9月 

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    開催年月日： 2021年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • 【学生による口頭発表】"内径の異なるキャピラリーから得られる真空エレクトロスプレー液滴イオンビームによるスパッタ体積" 10a-N402-7, 重要な業績

    川瀬幹大, 二宮啓, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会,  2021年9月 

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    開催年月日： 2021年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • 【学生によるポスター発表】"パルスナノエレクトロスプレーイオン化による混合試料の質量分析" 3P-31, 重要な業績

    相模杜武, 二宮啓, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    第69回質量分析総合討論会,  2021年5月 

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    開催年月日： 2021年5月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • “TOF-SIMS応用に向けたパルスソース型の真空エレクトロスプレー液滴イオンビーム発生装置に関する検討” 重要な業績

    二宮啓, 川瀬幹大, 相模杜武, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2021年 第68回 応用物理学会 春季学術講演会,  2021年3月 

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    開催年月日： 2021年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • 【依頼講演】“TOF-SIMS応用に向けた真空エレクトロスプレー液滴イオンビームの現状と課題” 招待 重要な業績

    二宮啓, 川瀬幹大, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2020年度 実用表面分析講演会(PSA-20),  2020年11月  表面分析研究会

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    開催年月日： 2020年11月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：オンライン講演会  

  • 【学生によるポスター発表】"真空エレクトロスプレー液滴イオンビームのサイズ分布およびその液滴イオン衝突によるスパッタ体積" OP-05,

    川瀬幹大, 二宮啓, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    SIMS研究会13,  2020年9月  SISS

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    開催年月日： 2020年9月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：オンライン開催  

  • “真空エレクトロスプレー液滴イオンのサイズ分布に関する検討” 重要な業績

    二宮啓, 川瀬幹大, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2020年<第81回＞応用物理学会秋季学術講演会,  2020年9月 

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    開催年月日： 2020年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • 【Oral Presentation】 “Useful ion yields estimated from secondary ion and sputtering yields produced by vacuum electrospray droplet ion beams” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    22th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-22),  2019年10月  Jiro Matsuo

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    開催年月日： 2019年10月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Miyako Messe, Kyoto, Japan  

  • “真空エレクトロスプレー液滴イオン衝撃における生体分子のユースフルイールド” 20a-E203-8, 重要な業績

    二宮啓, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2019年 第80回応用物理学会秋季学術講演会,  2019年9月  応用物理学会

    　詳細を見る

    開催年月日： 2019年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：北海道大学  

  • “真空エレクトロスプレー液滴イオン衝撃によるスパッタ率と二次イオン収率の精密評価” 2E-O1-1030, 重要な業績

    二宮啓, 高木悠一郎, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    第67回質量分析総合討論会,  2019年5月  日本質量分析学会

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    開催年月日： 2019年5月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：つくば  

  • 【学生によるポスター発表】"シースフロー探針エレクトロスプレーイオン源を用いた多試料の自動採取質量分析" 1P-25, 重要な業績

    関根亮, 二宮啓, 平岡賢三, Stephanie Rankin-Turner, 和田博史, 中野洋, 松村正哉, 真田森村幸代, 田中福代, 野並浩,

    第67回質量分析総合討論会,  2019年5月 

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    開催年月日： 2019年5月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • 【招待講演】“エレクトロスプレー液滴イオンビームによる表面分析” OQD-18-077, 招待 重要な業績

    二宮啓, 境悠治, チェンリーチュイン, 平岡賢三

    電気学会 光・量子デバイス研究会,  2018年12月 

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    開催年月日： 2018年12月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

  • 【Poster presentation】 “Sputtering Yields of Polymers Produced by Vacuum Electrospray Water Droplet Ion Beams” P-6, 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, Y. Miyamoto, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    The International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS-20),  2018年6月  H. Yurimoto

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    開催年月日： 2018年6月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：Kichijoji, Tokyo, Japan  

  • 【受賞講演】“二次イオン質量分析のための真空型エレクトロスプレー液滴イオン銃の開発” 2A-AW-1025, 招待 重要な業績

    二宮啓,

    第66回質量分析総合討論会,  2018年5月  日本質量分析学会

    　詳細を見る

    開催年月日： 2018年5月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：大阪  

  • 【学生によるポスター発表】"マッシブクラスターイオンビームを用いる二次イオン質量分析の評価" 1P-38, 重要な業績

    高木悠一郎, 二宮啓, 堀内直也, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    第66回質量分析総合討論会,  2018年5月 

    　詳細を見る

    開催年月日： 2018年5月

    記述言語：日本語   会議種別：ポスター発表  

  • “遠隔採取質量分析のためのシースフロー探針エレクトロスプレーイオン源” 1C-O2-M-1740, 重要な業績

    二宮啓, D.T. Usmanov, 平岡賢三, 和田博史, 中野洋, 松村正哉, 眞田幸代, 野並浩,

    第66回質量分析総合討論会,  2018年5月  日本質量分析学会

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    開催年月日： 2018年5月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：大阪  

  • 【依頼講演】“真空型エレクトロスプレー液滴イオン銃の開発とTOF-SIMS測定への応用” 招待 重要な業績

    二宮啓, 髙木悠一郎, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2018年 第65回応用物理学会春季学術講演会,  2018年3月  応用物理学会,

    　詳細を見る

    開催年月日： 2018年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：早稲田大学西早稲田キャンパス,  

  • “かゆいところに手が届く自作イオン源・イオン銃そして分析部” 招待 重要な業績

    二宮啓

    2018年第1回TMS研究会講演会,  2018年1月  TMS研究会,

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    開催年月日： 2018年1月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：川崎市産業振興会館,  

  • “Flash desorption mass spectrometry of solid materials using a pre-heated knife-edge filament” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, D. T. Usmanov, K. Hiraoka,

    11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '17 (ALC’17),  2017年12月  The 141st Committee on Microbeam Analysis, Japan Society for the Promotion of Science

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    開催年月日： 2017年12月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：Aqua Kauai Beach Resort, Kauai, Hawaii, USA  

  • “Probe electrospray ionization of mixture solutions using metal needles with different tip conditions” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, S. Iwamoto, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '17 (ALC’17),  2017年12月  The 141st Committee on Microbeam Analysis, Japan Society for the Promotion of Science

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    開催年月日： 2017年12月

    記述言語：英語   会議種別：ポスター発表  

    開催地：Aqua Kauai Beach Resort, Kauai, Hawaii, USA  

  • “注文の多い二次イオン質量分析用イオン銃の開発” 重要な業績

    二宮啓, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    第69回イオン反応研究会,  2017年9月  日本質量分析学会,

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    開催年月日： 2017年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：山梨大学甲府キャンパス,  

  • 【Invited speaker】 “Secondary ion yields produced by vacuum-type electrospray droplet ion beams” 招待 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    21th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XXI),  2017年9月  Zbigniew Postawa

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    開催年月日： 2017年9月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：Auditorium Maximun of the Jagiellonian University, Kraków, Poland  

  • “帯電液滴衝撃による二次イオン収率の精密評価” 重要な業績

    二宮啓, 渡邊諒, 髙木悠一郎, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2017年真空・表面科学合同講演会  2017年8月  日本表面科学会・日本真空学会

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    開催年月日： 2017年8月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：横浜市立大学金沢八景キャンパス  

  • “帯電液滴およびガスクラスター衝撃による二次イオンの測定” 重要な業績

    二宮啓, 十河真生, 坂井大輔, 渡邉勝己, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2017年<第64回＞応用物理学会春季学術講演会,  2017年3月 

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    開催年月日： 2017年3月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • 【依頼講演】“クラスターイオンの使い道(SIMS&XPS)” 招待 重要な業績

    二宮 啓, 平岡 賢三、

    2016年真空・表面科学合同講演会,  2016年11月  日本表面科学会・日本真空学会

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    開催年月日： 2016年11月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：名古屋国際会議場  

  • “真空型帯電液滴およびクラスタービームによる二次イオン収率” 重要な業績

    二宮啓, 十河真生, 宮山卓也, 坂井大輔, 渡邉勝己, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2016年<第77回＞応用物理学会秋季学術講演会,  2016年9月 

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    開催年月日： 2016年9月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（一般）  

  • 【Oral presentation】 “Time-of-flight secondary ion mass spectrometry with a vacuum-type electrospray droplet ion gun” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, Y. Sakai, M. Sogou, T. Miyayama, D. Sakai, K. Watanabe, L.C. Chen, K. Hiraoka

    The International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS-18),  2016年7月  H. Yurimoto

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    開催年月日： 2016年7月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Kichijoji, Tokyo, Japan  

  • 【依頼講演】“真空型帯電液滴ビーム銃の開発と表面分析への応用” 招待 重要な業績

    二宮啓, 境悠治, チェンリーチュイン, 平岡賢三,

    2015年真空・表面科学合同講演会  2015年12月  日本表面科学会・日本真空学会

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    開催年月日： 2015年12月

    記述言語：日本語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：つくば国際会議場  

  • 【Oral presentation】“Secondary ions produced by electrosprayed droplet impacts with m/z selection from 10^3 to 10^6” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, Y. Sakai, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    20th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMSXX),  2015年9月  David Castner

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    開催年月日： 2015年9月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：The Westin Seattle  

  • 【Oral presentation】“Charged droplet beam source for secondary ion mass spectrometry using nano electrospray in vacuum” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, Y. Sakai, R. Takaishi, K. Hiraoka,

    20th International Mass Spectrometry Conference (IMSC2014),  2014年8月  R. Zenobi & M. Suter

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    開催年月日： 2014年8月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Geneve  

  • 【Invited speaker】 “Characteristics of Charged Droplet Beams Produced from Vacuum Electrospray” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, Y. Sakai, L.C. Chen, K. Hiraoka,

    6th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-13),  2013年11月 

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    開催年月日： 2013年11月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：Okinawa Convention Center  

  • 【Oral presentation】 “Feasibility study of vacuum-type electrospray droplet beam sources” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, Y. Sakai, H. Suzuki, K. Hiraoka,

    24th Annual Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Techniques,  2012年5月  S. Hues, G. Gillen, R. Lareau

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    開催年月日： 2012年5月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Philadelphia, Pa, USA  

  • 【Invited speaker】 “Development of a high-performance electrospray droplet beam source” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, Y. Sakai, H. Suzuki, K. Hiraoka,

    18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XVIII),  2011年9月  M. Anderle, A. Licciardello

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    開催年月日： 2011年9月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（招待・特別）  

    開催地：Riva del Garda, Trentino, Italy  

  • 【Oral presentation】 “High sensitive SIMS with electrospray droplet impact method” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, L.C. Chen, Y. Sakai, K. Hiraoka,

    The International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions at Seikei University (SISS-13),  2011年6月  M. Kudo, S. Aoyagi

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    開催年月日： 2011年6月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Toyota Central R&D Labs., Inc., Aichi, Japan  

  • 【Oral presentation】 “Characteristics of organic depth profiling using large cluster ion beams” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Ichiki, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    10th Workshop on Cluster Ion Beam Technology,  2010年6月  J. Matsuo

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    開催年月日： 2010年6月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Shimogyo, Kyoto, Japan  

  • 【Oral presentation】 “Availability of gas cluster SIMS to biomolecular analysis” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Ichiki, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    The International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions at Seikei University (SISS-12),  2010年6月  M. Kudo, S. Hayashi

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    開催年月日： 2010年6月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Kichijoji, Tokyo, Japan,  

  • 【Oral presentation】 “Depth profile characteristics of organic materials with large Ar cluster ion beams” 国際会議 重要な業績

    S. Ninomiya, K. Ichiki, T. Seki, T. Aoki, J. Matsuo,

    22nd Annual SIMS Workshop,  2010年5月  G. Gillen

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    開催年月日： 2010年5月

    記述言語：英語   会議種別：口頭（一般）  

    開催地：Norfolk, Virginia, USA  

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受賞

  • 2022年度論文賞

    2022年6月   日本質量分析学会   Corona Discharge and Field Electron Emission in Ambient Air Using a Sharp Metal Needle: Formation and Reactivity of CO3− and O2−

    Kenzo Hiraoka, Stephanie Rankin-Turner, Satoshi Ninomiya, Haruo Shimada, Kazumasa Kinoshita, Shinichi Yamabe,

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    受賞区分：国内学会・会議・シンポジウム等の賞  受賞国：日本国

  • 2021年度会誌賞

    2021年5月   日本質量分析学会   Probe Electrospray Ionization (PESI) and Its Modified Versions: Dipping PESI (dPESI), Sheath-Flow PESI (sfPESI) and Adjustable sfPESI (ad-sfPESI)

    Kenzo Hiraoka, Osamu Ariyada, Dilshadbek T. Usmanov, Lee Chuin Chen, Satoshi Ninomiya, Kentaro Yoshimura, Sen Takeda, Zhang Yu, Mridul K. Mandal, Hiroshi Wada, Stephanie Rankin-Turner, and Hiroshi Nonami,

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    受賞区分：国内学会・会議・シンポジウム等の賞  受賞国：日本国

  • 2018年度日本質量分析学会奨励賞

    2018年5月   日本質量分析学会   "二次イオン質量分析のための真空型エレクトロスプレー液滴イオン銃の開発"

    二宮　啓

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    受賞区分：国内学会・会議・シンポジウム等の賞 

  • Excellent Poster Award,

    2013年7月   Taiwan Society for Mass Spectrometry,   "A Comparative Study of Ambient and Vacuum Electrospray for Massive Cluster Beam Source"

    Satoshi Ninomiya

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    受賞区分：国際学会・会議・シンポジウム等の賞 

  • SIMS XVI Young Scientist Award

    2007年11月   SIMS XVI International Committee  

    Satoshi Ninomiya

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    受賞区分：国際学会・会議・シンポジウム等の賞 

    Secondary ion emission from Si bombarded with large Ar cluster ions under UHV conditions

担当授業科目（学内）

  • 創薬・医療技術開発学特論

    2023年度  科目区分：修士（大学院）

  • 電子応用実験 重要な業績

    2023年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電気電子工学実験I 重要な業績

    2023年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 基礎化学 重要な業績

    2023年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 計測工学特論 重要な業績

    2023年度  科目区分：修士（大学院）

  • 物理学実験 重要な業績

    2023年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 計測工学特論

    2022年度

  • 電気電子工学実験I 重要な業績

    2022年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電子応用実験 重要な業績

    2022年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 基礎化学 重要な業績

    2022年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 物理学実験 重要な業績

    2022年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電子応用実験 重要な業績

    2021年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電気電子工学実験I 重要な業績

    2021年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 物理学実験 重要な業績

    2021年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 基礎化学 重要な業績

    2021年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 計測工学特論 重要な業績

    2021年度  科目区分：修士（大学院）

  • 基礎電気電子工学実験

    2017年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電子応用実験 重要な業績

    2016年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 電気電子工学実験I 重要な業績

    2016年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 計測工学特論 重要な業績

    2016年度  科目区分：修士（大学院）

  • 計測機器工学特論

    2016年度  科目区分：博士（大学院）

  • 基礎化学 重要な業績

    2016年度  科目区分：専門教育（学部）

  • 物理学実験

    2016年度  科目区分：専門教育（学部）

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指導実績

  • 2023年度

    種別：学部（専攻科Aコース）卒業論文指導

    指導人数 ：3人 

    卒業／修了／学位取得人数 ：3人 

    担当教員数：1人

  • 2023年度

    種別：修士（専攻科Bコース）学位論文指導

    指導人数 ：3人 

    卒業／修了／学位取得人数 ：3人 

    担当教員数：1人

  • 2022年度

    種別：修士（専攻科Bコース）学位論文指導

    指導人数 ：3人 

  • 2022年度

    種別：学部（専攻科Aコース）卒業論文指導

    指導人数 ：3人 

  • 2021年度

    種別：学部（専攻科Aコース）卒業論文指導

    指導人数 ：3人 

  • 2021年度

    種別：修士（専攻科Bコース）学位論文指導

    指導人数 ：2人 

  • 2020年度

    種別：学部（専攻科Aコース）卒業論文指導

    指導人数 ：4人 

  • 2019年度

    種別：学部（専攻科Aコース）卒業論文指導

    指導人数 ：3人 

    担当教員数：1人

  • 2019年度

    種別：修士（専攻科Bコース）学位論文指導

    指導人数 ：1人 

  • 2018年度

    種別：修士（専攻科Bコース）学位論文指導

    指導人数 ：1人 

  • 2018年度

    種別：学部（専攻科Aコース）卒業論文指導  期間：12ヶ月

    指導人数 ：3人 

    卒業／修了／学位取得人数 ：3人 

    担当教員数：1人

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    卒業研究の指導

  • 2017年度

    種別：学部（専攻科Aコース）卒業論文指導  期間：12ヶ月

    指導人数 ：3人 

    卒業／修了／学位取得人数 ：3人 

    担当教員数：1人

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    卒業研究の指導

  • 2017年度

    種別：修士（専攻科Bコース）学位論文指導

    指導人数 ：1人 

  • 2016年度

    種別：学部（専攻科Aコース）卒業論文指導  期間：12ヶ月

    指導人数 ：4人 

    卒業／修了／学位取得人数 ：4人 

    担当教員数：1人

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    卒業研究の指導

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その他の教育実績

  • "Advanced Measurement Engineering" at Hangzhou Dianzi University

    2023年度

  • Online course of "Advanced Measurement Engineering" for Hangzhou Dianzi University

    2022年度

修士・博士論文審査

  • 2023年度

    主査副査分類：副査

    修士 ：5人 

    課程博士 ：1人  （内　留学生）：1人

  • 2023年度

    主査副査分類：主査

    修士 ：3人 

  • 2022年度

    主査副査分類：主査

    修士 ：3人 

  • 2022年度

    主査副査分類：副査

    修士 ：2人 

  • 2021年度

    主査副査分類：主査

    修士 ：2人 

  • 2019年度

    主査副査分類：主査

    修士 ：1人 

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外部発表指導の実績

  • 2023年度

    日本語論文発表指導・口頭発表 （指導人数）：3人 

  • 2022年度

    日本語論文発表指導・口頭発表 （指導人数）：3人 

    英語　論文発表指導・口頭発表 （指導人数）：2人 

  • 2021年度

    日本語論文発表指導・口頭発表 （指導人数）：2人 

    英語　論文発表指導・口頭発表 （指導人数）：2人 

社会貢献活動

  • 微細な世界を見るための先端計測技術とイオンに関連した研究開発 重要な業績

    役割：講師

    山梨県総合教育センター  令和5年度 理科授業力アップ研修会  2023年8月

  • 目で見えない原子や分子の世界の覗き方

    役割：講師

    山梨県立甲府昭和高等学校  山梨県立甲府昭和高等学校  2017年9月

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    対象： 高校生

    種別：出前授業

所属学協会

  • 日本分析化学会

    2013年1月 - 現在

  • 日本質量分析学会

    2007年4月 - 現在

  • 日本表面科学会

    2006年8月 - 現在

  • 応用物理学会

    2006年6月 - 現在

  • 日本MRS

    2006年 - 現在

  • 日本原子力学会

    2004年5月 - 現在

  • 日本物理学会

    2000年 - 現在

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委員歴

  • 日本表面真空学会MBA部会SISS国際会議   幹事会委員   重要な業績

    2023年4月 - 2024年3月   

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    団体区分：学協会

  • 日本表面真空学会MBA部会SISS国際会議   幹事会委員  

    2022年4月 - 2023年3月   

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    団体区分：学協会

  • 日本表面真空学会MBA部会SISS国際会議   幹事会委員  

    2021年4月 - 2022年3月   

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    団体区分：学協会

  • 日本学術振興会 R026先端計測技術の将来設計委員会   運営委員  

    2020年4月 - 2025年3月   

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    団体区分：学協会

  • The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS)   幹事会委員  

    2020年4月 - 2021年3月   

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    団体区分：学協会

  • SIMS-22国際会議   実行委員  

    2018年10月 - 2019年10月   

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    団体区分：学協会

  • 日本学術振興会 マイクロビームアナリシス第141委員会   企画幹事  

    2018年4月 - 2020年3月   

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    団体区分：学協会

  • SIMS新技術WG   SIMS国際シンポジウム(SISS)幹事会委員  

    2018年4月 - 2020年3月   

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    団体区分：学協会

  • SIMS新技術WG   SIMS国際シンポジウム(SISS)幹事会委員  

    2017年4月 - 2018年3月   

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    団体区分：学協会

  • ALC17実行委員会   実行委員  

    2017年4月 - 2018年3月   

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    団体区分：学協会

  • 日本学術振興会 マイクロビームアナリシス第141委員会   委員  

    2017年4月 - 2018年3月   

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    団体区分：学協会

  • ALC17実行委員会   実行委員  

    2016年12月 - 2017年3月   

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    団体区分：学協会

  • 日本学術振興会 マイクロビームアナリシス第141委員会   委員  

    2016年12月 - 2017年3月   

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    団体区分：学協会

  • SIMS新技術WG   SIMS国際シンポジウム(SISS)幹事会委員  

    2016年7月 - 2017年3月   

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    団体区分：学協会

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メディア報道

  • 微量成分 自動で質量分析 新聞・雑誌

    日刊工業新聞社  日刊工業新聞  2022年7月

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    執筆者：本人以外